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龙图腾网恭喜北京京瀚禹电子工程技术有限公司申请的专利基于芯片外部目检的智能化缺陷分析方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117830290B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410087813.2，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权基于芯片外部目检的智能化缺陷分析方法及系统是由李品;李涛;杨燕;赵雅梅设计研发完成，并于2024-01-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于芯片外部目检的智能化缺陷分析方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于芯片外部目检的智能化缺陷检测系统及方法，本发明提供的系统包括物料传输组件将待检测件从第一位置传输至第二位置；物料控制组件将待检测件从第一采样方向移动至第N采样方向；光源向待检测件于对应第一采样方向至第N采样方向形成的各检测面发射光线；成像模块获取待检测件从第一采样方向至第N采样方向形成的检测面的图像数据；数据处理模块存储预训练的神经网络模型，获取成像模块的图像数据经神经网络模型输出识别结果；分拣模块为设置有第一分拣区至第N分拣区；控制模块根据识别结果向分拣模块发送信号，控制分拣模块将待检测件分拣至第一分拣区至第N分拣区中的任一区域。本发明通过神经网络确定缺陷区域和识别结果。

本发明授权基于芯片外部目检的智能化缺陷分析方法及系统在权利要求书中公布了：1.基于芯片外部目检的智能化缺陷分析系统，其特征在于，包括：物料传输组件，被配置为将待检测件从第一位置传输至第二位置；物料控制组件，被配置为将所述待检测件从第一采样方向移动至第N采样方向；光源，被配置为向所述待检测件于对应所述第一采样方向至所述第N采样方向形成的各检测面发射光线；成像模块，被配置为获取所述待检测件从所述第一采样方向至第N采样方向形成的检测面的图像数据；数据处理模块，被配置为存储预训练的神经网络模型，获取所述成像模块的图像数据经所述神经网络模型输出识别结果；分拣模块，被配置为设置有第一分拣区至第N分拣区；控制模块，被配置为根据所述识别结果向所述分拣模块发送信号，控制所述分拣模块将待检测件分拣至第一分拣区至第N分拣区的对应区域；所述系统通过如下方法实现，包括如下步骤：S1、获取参照数据集；S2、获取训练数据集；S3、确定缺陷定义域，并确定各缺陷定义域的缺陷阈值；确定所述缺陷定义域，包括如下步骤：将所述检测面按照预设的网格尺寸分割为多个样本实例；每一样本示例，确定灰度均值的分布区域后，确定该样本实例中至少包括的第一灰度和第二灰度，且拟合任意第一灰度和第二灰度之间的拟合边界线；确定具有第一拟合边界线的第一缺陷定义域；确定具有第二拟合边界线的第二缺陷定义域；判断缺陷定义域的缺陷类型，根据所述缺陷类型向参照数据集中的图像进行最大边界拟合，确定缺陷阈值；S4、通过训练数据集迭代训练，得到最优缺陷阈值；S5、输入待检测图像，输出识别结果；执行步骤S3之前，还包括如下步骤：对参考数据和样本数据集中的图像做灰度处理；得到差分图像集；且于所述步骤S4之前，还包括，对差分图像中对应缺陷进行二值化处理，得到二值化图像。

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