买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网恭喜南京大学;合肥国家实验室申请的专利一种半导体漂移室探测器漂移特性的测试系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119828207B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510334586.3，技术领域涉及：G01T7/00；该发明授权一种半导体漂移室探测器漂移特性的测试系统及方法是由徐尉宗;郭越;徐仁杰;陆海;任芳芳;周东设计研发完成，并于2025-03-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种半导体漂移室探测器漂移特性的测试系统及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及半导体漂移室探测器测量领域，具体涉及一种半导体漂移室探测器漂移特性的测试系统及方法。测试系统包括双面探针台、半导体漂移室探测器、第一双通道数字万用表、第二双通道数字万用表、激光器和光纤夹具。双面探针台用于固定和连接探测器，数字万用表分别施加偏压和采集数据，激光器通过光纤照射探测器背面。测试时，先选激光器波长并调光功率，将探测器置于暗室双面探针台并连接设备，光照后设置电压并监测电流，调整光照位置，依据不同光照位置电流差判断横向漂移特性是否合格。该测试系统及方法，相比传统集成测试，有效减少测试时间，提高器件迭代速度，能便捷表征半导体漂移室探测器中电子的横向漂移特性。

本发明授权一种半导体漂移室探测器漂移特性的测试系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种半导体漂移室探测器漂移特性的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：双面探针台（4），所述双面探针台（4）上设置有多个探针；半导体漂移室探测器（3），所述半导体漂移室探测器（3）放置于所述双面探针台（4）上并与探针相连，且所述半导体漂移室探测器（3）的背面朝上设置；所述半导体漂移室探测器（3）的正面包括阳极电极（301）、最内漂移环电极（302）和最外漂移环电极（303）；所述半导体漂移室探测器（3）的背面包括背电极（305）；第一双通道数字万用表（5），所述第一双通道数字万用表（5）的两个通道分别与所述最内漂移环电极（302）和所述背电极（305）通过所述探针相连；第二双通道数字万用表（6），所述第二双通道数字万用表（6）的两个通道分别与所述阳极电极（301）和所述最外漂移环电极（303）通过所述探针相连；所述第二双通道数字万用表（6）与电脑端（7）相连；激光器（1），所述激光器（1）上连接有光纤（2），所述光纤（2）输出端用于照射所述半导体漂移室探测器（3）背面。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人南京大学;合肥国家实验室，其通讯地址为：210023 江苏省南京市栖霞区仙林大道163号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。