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龙图腾网恭喜中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利一种基于深度学习的硅基光互连芯片动态评估系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119667452B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510200107.9，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种基于深度学习的硅基光互连芯片动态评估系统是由陆健婷;柳月波;赖灿雄;廖文渊;李树旺;路国光设计研发完成，并于2025-02-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于深度学习的硅基光互连芯片动态评估系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于深度学习的硅基光互连芯片动态评估系统，涉及芯片评估技术领域，该系统公开了基本性能分析模块、光学器件筛查模块、光学器件评估模块、动态评估模块，设置光学器件筛查模块、光学器件评估模块以及动态评估模块，在开启光学器件筛查工作后，通过构建一个硅基光互连芯片的模拟模型，可以模拟硅基光互连芯片在当前性能参数下各光学器件可能的性能表现，综合分析每个光学器件的测试评估需求，根据测试评估需求的动态筛选以及排序光学器件的测试评估顺序，不再需要对每个光学器件进行测试评估，可以快速确定硅基光互连芯片中的异常光学器件，提高光学器件的测试评估精度与效率。

本发明授权一种基于深度学习的硅基光互连芯片动态评估系统在权利要求书中公布了：1.一种基于深度学习的硅基光互连芯片动态评估系统，其特征在于，包括基本性能分析模块、光学器件筛查模块、光学器件评估模块、动态评估模块；所述基本性能分析模块用于周期性获取硅基光互连芯片的基本性能指数，基于基本性能指数与基本性能分界指数的比较结果，判定是否启动光学器件筛查步骤；硅基光互连芯片的基本性能指数通过下述方式获取得到：采集硅基光互连芯片在一个周期内的各种基本性能参数，将各种基本性能参数以数据集的方式组合成基本性能参数集，获取基本性能分析模型，将基本性能参数集输入基本性能分析模型，基本性能分析模型输出得到硅基光互连芯片的基本性能指数；所述光学器件筛查模块在当启动光学器件筛查步骤时，构建硅基光互连芯片模拟模型，将硅基光互连芯片的各种基本性能参数输入硅基光互连芯片模拟模型中，硅基光互连芯片模拟模型完成j次性能模拟分析，获取每次性能模拟分析中各光学器件的器件性能指数；一次性能模拟分析中各光学器件的器件性能指数通过下述方式获取得到：当硅基光互连芯片模拟模型完成一次性能模拟分析后，获取各光学器件的特性参数，获取各光学器件对应的特性参数分析模型，将各光学器件的特性参数分别输入对应的特性参数分析模型，输出得到各光学器件的器件性能指数；所述光学器件评估模块用于获取各光学器件的器件评估测试指数，基于器件评估测试指数与器件评估测试阈指数的比较结果，判定是否将光学器件标记为评估测试器件；光学器件的器件评估测试指数通过下述方式获取得到：获取一个光学器件在每次性能模拟分析中的器件性能指数Sjp，j=1、2、…、J，J为性能模拟分析的总次数，j为对应性能模拟分析的次序号，设置器件性能系数为ep，p=1、2、…、P，e1＜e2＜e3＜…＜eP，每个器件性能系数对应一个范围内的器件性能指数，器件性能指数的取值范围包括（0，Sj1]，（Sj1，Sj2]，…，（SjP-1，SjP]，设置器件性能标准指数，当器件性能指数小于器件性能标准指数时，将性能失望次数增加一次，将性能失望次数标记为Hvz，利用公式得到该光学器件的器件评估测试指数Ewk，其中，f1为性能失望系数；所述动态评估模块用于依次对各评估测试器件进行评估测试。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))，其通讯地址为：511370 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。