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龙图腾网恭喜武汉永力睿源科技有限公司申请的专利一种芯片老化测试过程中的芯片绝缘缺陷检测装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119556117B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510130301.4，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种芯片老化测试过程中的芯片绝缘缺陷检测装置及方法是由李少华;邓卫华;昝国骥;阮班栋;董雷;高腾;黄文章;程航设计研发完成，并于2025-02-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片老化测试过程中的芯片绝缘缺陷检测装置及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片老化测试过程中的芯片绝缘缺陷检测装置及方法，其包括：检测电源；导电单元；首端导线、尾端导线、若干中间导线；电压采样单元，其分别连接所述导电单元，用于获取经过每一导线流向导电单元的电流所产生的对应的当前电压模拟信号，且将当前电压模拟信号转换为当前电压数字信号；以及上位机，其用于根据所有当前电压数字信号以及采样电压‑芯片数量之间的映射关系确定是否有芯片与导电单元发生短路，以及确定发生短路的芯片编号。本发明基于预先构建的采样电压‑芯片数量之间的映射关系，通过将自动检测获得的当前电压数字信号与映射关系的对比，即可快速确定是否有芯片存在绝缘缺陷，以及发生短路的芯片位置。

本发明授权一种芯片老化测试过程中的芯片绝缘缺陷检测装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片老化测试过程中的芯片绝缘缺陷检测装置，其特征在于，包括：检测电源，其具有电源正极V+以及电源负极V-，且所述电源正极V+连接依次串联的n个芯片D1、D2、...、Dn中，第1个芯片D1的正极，每一芯片均有与其唯一对应的编号；导电单元；首端导线，其一端连接依次串联的n个芯片D1、D2、...、Dn中，第1个芯片D1的正极，另一端连接所述导电单元；尾端导线，其一端连接依次串联的n个芯片D1、D2、...、Dn中，第n个芯片Dn的负极，另一端连接所述导电单元；若干中间导线，且每相邻两个芯片之间，均有一中间导线的一端同时连接前一芯片的负极以及后一芯片的正极，另一端连接所述导电单元；电压采样单元，其分别连接所述导电单元以及电源负极V-，用于获取经过每一导线流向导电单元的电流所产生的对应的当前电压模拟信号，且将每一当前电压模拟信号转换为对应的当前电压数字信号；以及上位机，其连接所述电压采样单元，用于根据所有当前电压数字信号以及采样电压-芯片数量之间的映射关系确定是否有芯片与导电单元发生短路，以及确定发生短路的芯片编号。

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