恭喜华芯程(杭州)科技有限公司余志堂获国家专利权
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龙图腾网恭喜华芯程(杭州)科技有限公司申请的专利工艺窗口优化方法、装置、介质、程序产品及终端获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119312750B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411855058.4,技术领域涉及:G06F30/337;该发明授权工艺窗口优化方法、装置、介质、程序产品及终端是由余志堂设计研发完成,并于2024-12-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本工艺窗口优化方法、装置、介质、程序产品及终端在说明书摘要公布了:本申请提供工艺窗口优化方法、装置、介质、程序产品及终端,通过目标函数优化与数值规划求解方法,解决了弱点和坏点区域光强对比度低、工艺窗口有限及成品缺陷率高的问题。采用弱点和坏点区域光强对数斜率平方和作为优化目标,结合边段移动范围、边缘位置误差及相互影响因素,建立合理优化模型。同时引入稀疏矩阵、密矩阵等多种矩阵方法,提高了优化效率与精度,实现了掩模图形的精确优化,扩展了工艺窗口,降低了缺陷率,增强了工艺稳定性和适应性,显著提升生产效率与产品质量。
本发明授权工艺窗口优化方法、装置、介质、程序产品及终端在权利要求书中公布了:1.一种工艺窗口优化方法,其特征在于,包括:获取原始掩模图形;基于预设的光强对数斜率,在所述原始掩模图形中执行缺陷点位识别操作,以提取多个缺陷点位坐标;对每个缺陷点位坐标所在的掩模图形执行区域分区操作,以生成可优化区域和不可优化区域;其中,所述可优化区域中含有一个或多个可优化子区域;在每个所述可优化子区域中提取多个待优化边段,并根据多个待优化边段生成相互影响矩阵;基于与当前可优化子区域对应的线性约束条件和目标函数,对所述相互影响矩阵执行迭代优化操作,以生成修正后边段;使用修正后的边段替换原始掩模图形中相应位置的边段,以生成优化掩模图形。
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