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龙图腾网恭喜江苏优众微纳半导体科技有限公司申请的专利基于人工智能的芯片功耗评估方法、系统和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119248628B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411342429.9，技术领域涉及：G06F11/34；该发明授权基于人工智能的芯片功耗评估方法、系统和存储介质是由居法银;李宁;范波军;杨家辉;范其锋;范博渊;肖欢欢设计研发完成，并于2024-09-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于人工智能的芯片功耗评估方法、系统和存储介质在说明书摘要公布了：本发明属于芯片功耗检测领域，涉及数据分析技术，用于解决现有技术无法在芯片的功耗异常时根据测试数据进行优化决策分析的问题，具体是基于人工智能的芯片功耗评估方法、系统和存储介质，包括静态测试模块、静态分析模块、动态测试模块、动态分析模块以及数据库；静态测试模块用于对芯片功耗进行静态测试；静态分析模块用于对芯片的静态测试结果进行分析并将静态测试对象i标记为静态正常对象或静态异常对象；本发明可以对芯片在静态运行环境下的基础功耗性能进行测试，然后对静态测试结果进行数据处理得到静态系数，进而根据静态系数对静态测试对象进行差异化标记，为性能评估分析过程提供数据支撑。

本发明授权基于人工智能的芯片功耗评估方法、系统和存储介质在权利要求书中公布了：1.基于人工智能的芯片功耗评估系统，其特征在于，包括静态测试模块、静态分析模块、动态测试模块、动态分析模块以及数据库；所述静态测试模块用于对芯片功耗进行静态测试：将待测试的芯片标记为静态测试对象i，i=1，2，…，n，n为正整数，通过静态测试获取i的静态系数JTi，包括：为i设定基础负载值JF与基础间隔值JG，JF为静态测试过程中为i设置的处理任务的数据量；i完成处理任务，静态测试终止，在静态测试过程中实时获取i的表面温度值并标记为温测值，将温测值在静态测试结束时刻的数值与开始时刻的数值的差值标记为温升值，将温升值与静态测试过程的时长的比值标记为JTi；在所有i全部完成静态测试之后将所有i的JTi发送至静态分析模块；所述静态分析模块用于对芯片的静态测试结果进行分析并将i标记为静态正常对象或静态异常对象，包括：通过数据库调取静态阈值JTmax，将JTi与JTmax进行比较：若JTi小于JTmax，则判定i的静态功耗性能满足要求，将对应的i标记为静态正常对象；若JTi大于等于JTmax，则判定i的静态功耗性能不满足要求，将对应的i标记为静态异常对象；所述动态测试模块用于对芯片功耗进行动态测试：将静态正常对象标记为动态测试对象k，k=1，2，…，m，m为正整数，且m≤n；为k分配动态测试参数[JF+H1k，JG+H1m+1-k]，JF+H1k为动态测试过程中为k设置的处理任务的数据量，JG+H1m+1-k为动态测试过程中处理任务执行完成至下一处理任务开始执行之间的间隔时长；通过动态测试获取k的动态系数DTk，包括：动态测试过程中实时获取k的表面温度值并标记为实温值，在实温值达到预设的温度阈值时，动态测试过程终止，记录k对应动态测试过程的执行时长并标记为DTk；所述动态分析模块用于对芯片的动态测试结果进行分析并将k标记为动态正常对象或动态异常对象，包括：通过数据库调取动态阈值DTmin，将DTk与DTmin进行比较：若DTk大于DTmin，则判定k的动态功耗性能满足要求，将对应的k标记为动态正常对象；若DTk小于等于DTmin，则判定k的动态功耗性能不满足要求，将对应的k标记为动态异常对象。

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