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龙图腾网恭喜美光科技公司申请的专利用于存储器系统上的保持自测试的系统、存储系统和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113366576B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201980090741.4，技术领域涉及：G11C29/08；该发明授权用于存储器系统上的保持自测试的系统、存储系统和方法是由D·马耶鲁斯;B·拜伦设计研发完成，并于2019-12-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于存储器系统上的保持自测试的系统、存储系统和方法在说明书摘要公布了：本文描述了涉及存储器子系统中用于功率损耗操作的保持自测试的实施例。处理装置接收执行保持自测试以检测在功率损耗的情况下对所述处理装置和存储器组件供电的保持电路中的缺陷的请求。所述处理装置识别可用存储器的存储器位置，并且响应于检测到功率损耗，使用保持能量对所述存储器位置执行连续的写入操作序列，直到所有所述保持能量被消耗。在重启之后，所述处理装置确定在所有所述保持能量被消耗之前在所述存储器位置中成功完成的所述写入操作的数目。所述处理装置确定所述数目是否满足缺陷标准。响应于所述数目满足所述缺陷标准，所述处理装置报告与所述保持电路相关联的所述缺陷。

本发明授权用于存储器系统上的保持自测试的系统、存储系统和方法在权利要求书中公布了：1.一种存储器系统，其包括：保持电路，其提供保持能量给所述存储器系统以用于所述存储器系统的功率损耗操作集合；存储器组件，其与所述保持电路可操作地耦合；以及处理装置，其可操作地与所述存储器组件和所述保持电路耦合，以：接收在所述存储器系统的自测试模式下进行保持自测试的第一请求；响应于所述第一请求识别所述存储器组件的可用于在所述自测试模式期间写入自测试数据的存储器位置；当处于所述自测试模式时，检测到所述存储器系统的功率损耗；响应于检测到所述功率损耗，执行连续的写入操作序列，以使用来自所述保持电路的所述保持能量将所述自测试数据写入到所述存储器位置，直到保持能量的量被消耗；在所述存储器系统的重启之后，在保持能量的所述量被消耗之前，通过所述连续的写入操作序列确定在所述存储器位置中成功完成的写入操作的数目；确定成功完成的写入操作的所述数目是否满足缺陷标准；并且响应于成功完成的写入操作的所述数目满足所述缺陷标准，报告与所述保持电路相关联的缺陷。

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