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龙图腾网恭喜南京理工大学申请的专利利用调制平移变换的Harvey散射模型进行散射光线追迹的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115170718B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210900539.7，技术领域涉及：G06T15/06；该发明授权利用调制平移变换的Harvey散射模型进行散射光线追迹的方法是由袁群;伦旭磊;高志山;朱丹;许宁晏;乔文佑设计研发完成，并于2022-07-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本利用调制平移变换的Harvey散射模型进行散射光线追迹的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种利用调制平移变换的Harvey散射模型进行散射光线追迹的方法，首先根据入射光线方向确定抽样区域调制参数，之后将描述Harvey散射模型的双向反射分布函数BRDF改写为积分存在解析解的调制函数，在此基础上构造散射光线追迹概率模型对天顶角与方位角进行模拟采样，将采样点坐标转换为二次方向余弦坐标系中的坐标后作平移变化，通过限制条件筛选出有效样本，最终确定散射光线方向余弦。散射光线能量可通过BRDF、散射光线数量与入射光线能量求解。本发明通过抽样区域调制参数将BRDF改写为积分存在解析解的调制函数，解决了难以构建散射光线追迹概率模型的问题，同时避免了坐标平移导致的能量损失，最终可以实现Harvey散射模型散射光线追迹。

本发明授权利用调制平移变换的Harvey散射模型进行散射光线追迹的方法在权利要求书中公布了：1.一种利用调制平移变换的Harvey散射模型进行散射光线追迹的方法，其特征在于，步骤如下：步骤1、设定Harvey散射模型中的截距b0、肩角l、斜率s，并确定入射光线能量Ein、入射光线的天顶角θi与方位角以及散射光线数量n，转入步骤2；步骤2、根据θi与计算抽样区域调制参数r，具体如下：步骤2-1、根据方向余弦坐标系，将入射光线的角度θi、转换为方向余弦： 其中，x0表示入射光线x方向余弦，y0表示入射光线y方向余弦；步骤2-2、根据入射光线的x方向余弦与y方向余弦，计算抽样区域调制参数r； α表示调制常数，取值范围为0≤α≤1；转入步骤3；步骤3、通过r将双向反射分布函数BRDF改写为调制函数P，在此基础上构造累积分布函数，进而得到散射光线方向上的概率其中，θs1为散射光线的天顶角，为散射光线的方位角，转入步骤4；步骤4、由于中θs1与相互独立，将改写为其中，p1θs1为θs1处的概率，为处的概率，转入步骤5；步骤5、求p1θs1与的反函数分别对应为θs1p1与转入步骤6；步骤6、选择一条散射光线，按均匀分布U0,1取两个独立随机数p1与p2，将其分别代入θs1p1与中，求解对应的θs1与转入步骤7；步骤7、将方向余弦坐标系的坐标范围扩大，得到二次方向余弦坐标系，将θs1与转换为二次方向余弦坐标系中的坐标，将上述二次方向余弦坐标系中的坐标作平移变化得到调制x方向余弦x*与调制y方向余弦y*： 转入步骤8；步骤8、判断限制条件x*2+y*2≤1是否成立，成立时将x*与y*作为有效样本，分别对应记为L与M，转入步骤9；不成立时，返回步骤6，直至得到有效样本；步骤9、选择新的一条散射光线，返回步骤6，直至得到n对L与M，根据L与M求得z方向余弦N： 得到n条散射光线的方向余弦L,M,N；转入步骤10；步骤10、根据描述Harvey散射模型的BRDF、入射光线能量Ein与散射光线数量n，求得每条散射光线能量Esc；转入步骤11；步骤11、根据散射光线能量Esc以及每条散射光线的方向余弦L,M,N进行散射光线追迹。

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