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龙图腾网恭喜东南大学;中国航天科工动力技术研究院申请的专利测量目标空间三维光谱强度分布的方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115307732B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210804774.4，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权测量目标空间三维光谱强度分布的方法、装置及存储介质是由许传龙;黄益智;王丙寅;陈国锋;张彪设计研发完成，并于2022-07-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本测量目标空间三维光谱强度分布的方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种测量目标空间三维光谱强度分布的方法、装置及存储介质，测量方法包括：测量装置标定；对成像装置的辐射强度进行标定；曲线拟合重聚焦系数与对应的空间深度之间的函数；拍摄均匀白光源并记录光谱光场白光源图像；计算白光源图像中各个子图像与白光源图像中央基准子图像的相似度和每个子图像的输出校正系数；拍摄并记录目标空间的光谱光场图像，校正目标空间的光谱光场图像；根据校正后的光谱光场图像，计算形成目标空间的三维光谱强度分布场。本发明获取目标空间中不同焦深下的光谱能量分布，再通过全聚焦计算，得出目标空间被摄物群的空间深度信息以及三维光谱能量分布信息，实现目标空间三维多光谱强度的测量。

本发明授权测量目标空间三维光谱强度分布的方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种测量目标空间三维光谱强度分布的方法，其特征在于，包括：步骤一、测量装置标定：使采集到的实时图像中的子图像各个相切；调整光场相机系统中黑白相机CCD的安装角度，使得子图像的排列与像素排列相同；步骤二、对成像装置的辐射强度进行标定：曲线拟合图像灰度均值和对应辐射强度之间的关系；成像装置采用了耦合片式滤光片阵列的光谱主镜头，并在传感器之间耦合了一片微透镜阵列；步骤三、对成像装置进行深度标定；曲线拟合重聚焦系数与对应的空间深度之间的函数；步骤四、使用标定后的测量装置，拍摄均匀白光源并记录光谱光场白光源图像；根据白光源图像的亮度、结构及对比度，计算白光源图像中各个子图像与白光源图像中央基准子图像的相似度；根据相似度计算结果，并计算每个子图像的输出校正系数；步骤五、使用标定后的测量装置，拍摄并记录目标空间的光谱光场图像；使用步骤四的各个子图像的图像校正系数，校正目标空间的光谱光场图像；步骤六、根据校正后的光谱光场图像，计算形成目标空间的三维光谱强度分布场。

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