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龙图腾网恭喜中国电子技术标准化研究院申请的专利一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置及使用方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115015660B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210614203.4，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置及使用方法是由朱赛;陈梅双;项道才;叶畅;陈世钢;崔强;王酣;张强;付君;蔡利花;李志鹏设计研发完成，并于2022-05-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置及使用方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置及使用方法，包括：干扰信号发生单元产生射频干扰信号，通过屏蔽电缆或波导传递至位于全电波暗室内的极化天线，极化天线经过校准和调节，精准对准屏蔽箱体开孔的中心，再经过强场探头和场强监测仪对感应到场强进行监测和反馈，调节导轨滑块组合体，使极化天线产生的强场达到预定强场范围，将与受试IC进行连接的IC试验板覆盖于开口处，以此使受试IC的受试面最大限度接收射频干扰信号，并防止受试IC的非受试面接收到射频干扰信号，通过测试台监测受试IC的工作状态并对电磁辐射抗扰度进行评估。提高了集成电路电磁辐射抗扰度测试的精准度，提升了电磁辐射干扰信号的测试范围，适用性更强。

本发明授权一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置及使用方法在权利要求书中公布了：1.一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置，其特征在于，包括：全电波暗室1，所述全电波暗室1为密封盒状物，所述密封盒状物的外部和内部均覆盖有吸波材料和或电磁屏蔽材料，所述全电波暗室1内底面采用绝缘材料；干扰信号发生单元2，设置于所述全电波暗室1的外部，用于产生预定频率和预定强度的射频干扰信号，所述预定频率的范围为150kHz～80GHz；极化天线3，设置于所述全电波暗室1的内部，通过屏蔽电缆或波导与所述干扰信号发生单元2电连接，所述极化天线3高度和极化方向可调，用于向预定方向发射射频干扰信号；屏蔽箱体4，设置于所述全电波暗室1的内部，所述屏蔽箱体4为方形盒装物，所述方形盒装物的一面开孔，其余五面均覆盖有吸波材料和或电磁屏蔽材料；IC试验板5，可拆卸设置于所述屏蔽箱体4的开孔处并完全覆盖所述开孔，用于固定受试IC16并与所述受试IC16电连接；所述受试IC16的非受试面与所述IC试验板5的一面贴合连接，所述受试IC16的受试面正对所述极化天线3，所述受试IC16的中心与所述开孔中心重合；所述IC试验板5采用若干层电路板制成；激光发射器6，设置于所述屏蔽箱体4的内部且发射方向可调，用于从所述开孔中心并垂直于所述开孔平面发射激光，以便校准所述极化天线3的方向；场强探头7，设置于所述屏蔽箱体4的内部并位于所述开孔的中心位置处，用于感应所述极化天线3发射的射频干扰信号的感应场强；导轨滑块组合体8，包括导轨9和滑块10，所述导轨9设置于所述全电波暗室1的内底部且位于所述屏蔽箱体4的外部，所述滑块10可滑动设置于所述导轨9上，所述极化天线3可滑动设置于所述导轨9上，所述导轨滑块组合体8用于固定所述极化天线3和调节所述极化天线3在水平方向上的位移；场强监测仪11，设置于所述全电波暗室1的外部，并通过屏蔽线缆槽15与所述场强探头7电连接，用于显示和监测感应场强的大小；测试台12，设置于所述全电波暗室1的外部，并通过屏蔽线缆槽15与所述IC试验板5电连接，用于监测所述受试IC16的工作状态并对根据所述工作状态对电磁辐射抗扰度进行评估。

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