恭喜株式会社维纳科斯岩崎修获国家专利权
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龙图腾网恭喜株式会社维纳科斯申请的专利异物/缺陷检查装置、异物/缺陷检查中的图像生成装置以及异物/缺陷检查方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115803608B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180049060.0，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权异物/缺陷检查装置、异物/缺陷检查中的图像生成装置以及异物/缺陷检查方法是由岩崎修;香川幸大设计研发完成，并于2021-06-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本异物/缺陷检查装置、异物/缺陷检查中的图像生成装置以及异物/缺陷检查方法在说明书摘要公布了：由受光元件阵列光电二极管阵列的至少一个受光元件构成的一像素单位与光源一对一地对应，仅在光源发光时，由与该光源对应的至少一个受光元件一像素单位检测光束。照明光学系统包含导光单元，该导光单元使从多个光源射出的各光束的光轴的间隔在该多个光源的排列方向上缩小而向检查对象物引导各光束。
本发明授权异物/缺陷检查装置、异物/缺陷检查中的图像生成装置以及异物/缺陷检查方法在权利要求书中公布了：1.一种异物缺陷检查装置，其特征在于，所述异物缺陷检查装置具备：照明光学系统，其包含光扫描单元，该光扫描单元扫描对从呈线状地分隔排列的多个光源向具有光散射性的检查对象物中的至少一个以上的检查面射出的光进行准直而得到的光束、或对准直后的光束进一步进行大致聚光而得到的光束；受光光学系统，其以所述光源和由至少一个受光元件构成的一像素单位一对一地对应的方式与所述照明光学系统的扫描方向平行地配置，该受光光学系统包含多个受光元件，透射所述检查对象物的检查面后的所述光束照射到位于该检查对象物的异物或缺陷，所述多个受光元件接收来自该异物或缺陷的散射光、扩散光、或者被吸收扩散反射、被透射扩散的具有强弱的光；以及检测单元，其仅利用对应的受光元件检测来自所述照明光学系统的主扫描方向的任意位置处的所述光源的光束，由所述至少一个受光元件构成的一像素单位的空间分辨率为检查对象物的检查面上的由照明光学系统形成的所述光束的空间分辨率以上，所述照明光学系统包含导光单元，该导光单元使从所述多个光源射出的各光束的光轴的间隔在该多个光源的排列方向上缩小而向检查对象物引导各光束。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人株式会社维纳科斯，其通讯地址为：日本香川县；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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