恭喜浜松光子学株式会社广瀬和义获国家专利权
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龙图腾网恭喜浜松光子学株式会社申请的专利三维测量装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN113295110B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110187715.2,技术领域涉及:G01B11/25;该发明授权三维测量装置是由广瀬和义;龟井宏记;杉山贵浩;渡边明佳设计研发完成,并于2021-02-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本三维测量装置在说明书摘要公布了:三维测量装置101具备:一个或多个光源部102,其对被测量物SA照射具有规定图案的测量光105;一个或多个摄像部103,其对被照射了测量光105的被测量物SA进行摄像;测量部104,其基于摄像部103的摄像结果测量被测量物SA的三维形状,光源部102由M点振荡的S-iPMSEL1构成。
本发明授权三维测量装置在权利要求书中公布了:1.一种三维测量装置,其中,具备:一个或多个光源部,其对被测量物照射具有规定图案的测量光;一个或多个摄像部,其对被照射了所述测量光的所述被测量物进行摄像;测量部,其基于所述摄像部的摄像结果测量所述被测量物的三维形状,所述光源部由M点振荡的S-iPMSEL构成,所述M点振荡的S-iPMSEL包含活性层和与该活性层光学耦合的相位调制层,所述相位调制层包含由第一折射率介质构成的基本层和由折射率与所述第一折射率介质不同的第二折射率介质构成的多个不同折射率区域,所述多个不同折射率区域以在相当于所述相位调制层的波数空间的倒格子空间的倒格子点上满足M点处的振荡条件的方式配置,在将所述活性层的发光波长设为λ的情况下,形成于所述倒格子空间的多个面内波数矢量中的至少一个的大小小于2πλ。
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