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龙图腾网恭喜长治医学院附属和平医院申请的专利一种软膏涂覆质量检测方法、系统及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120013942B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510493079.4，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种软膏涂覆质量检测方法、系统及装置是由赵越设计研发完成，并于2025-04-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种软膏涂覆质量检测方法、系统及装置在说明书摘要公布了：本发明涉及检测技术领域，并具体公开了一种软膏涂覆质量检测方法、系统及装置，其方法包括：在软膏涂覆过程中实时采集涂覆区域的图像数据，并读取涂抹装置的实时运行参数数据；基于边缘检测方法和图像分割方法对图像数据进行分析处理，获得多维涂覆特征；基于多维涂覆特征和涂抹装置的实时运行参数数据分析出软膏涂覆层的缺陷定位数据；基于软膏涂覆层的缺陷定位数据生成涂覆质量检测报告；该方法实现了对软膏涂覆质量的实时、准确检测和评估，有助于及时发现问题并采取改进措施，提高产品质量和涂覆过程效率。

本发明授权一种软膏涂覆质量检测方法、系统及装置在权利要求书中公布了：1.一种软膏涂覆质量检测方法，其特征在于，包括： S1：在软膏涂覆过程中实时采集涂覆区域的图像数据，并读取涂抹装置的实时运行参数数据； S2：基于边缘检测方法和图像分割方法对图像数据进行分析处理，获得多维涂覆特征，包括： 基于边缘检测方法和图像分割方法对图像数据进行分析处理，获得目标涂覆区域的边界形态特征和实际涂覆区域的边界形态特征； 基于图像数据中包含的实际涂覆区域的颜色变化特征分析出实际涂覆区域的厚度分布特征，包括： 基于图像数据中包含的实际涂覆区域的边界形态特征划分出实际涂覆区域图像，将实际涂覆区域图像从RGB颜色模型转换在CIELAB颜色空间下，获得实际涂覆区域图像中每个像素在CIELAB颜色空间下的所有颜色分量； 基于实际涂覆区域图像中每个像素在CIELAB颜色空间下的所有颜色分量计算出实际涂覆区域图像中每个像素在CIELAB颜色空间下的颜色变化量； 基于实际涂覆区域图像中每个像素在CIELAB颜色空间下的颜色变化量，分析出实际涂覆区域的厚度分布特征，包括： 建立实际涂覆区域图像中每个像素在CIELAB颜色空间下的颜色变化量与吸光度之间的关系模型为，其中，为单个像素在CIELAB颜色空间下的颜色变化量且无量纲，为无量纲的比例系数，为实际涂覆区域图像中的对应像素处的吸光度； 基于实际涂覆区域图像中每个像素在CIELAB颜色空间下的颜色变化量、关系模型、软膏的消光系数，计算出实际涂覆区域图像中每个像素的厚度值：，其中，实际涂覆区域图像中每个像素的厚度值且单位为米，为软膏的消光系数且单位为，为物质的量的浓度且单位为； 基于实际涂覆区域图像中所有像素的厚度值获得实际涂覆区域的厚度分布特征； 其中，多维涂覆特征包括目标涂覆区域的边界形态特征以及实际涂覆区域的边界形态特征和厚度分布特征； S3：基于多维涂覆特征和涂抹装置的实时运行参数数据分析出软膏涂覆层的缺陷定位数据，包括： 基于多维涂覆特征中的目标涂覆区域的边界形态特征确定出目标涂覆区域图像中的所有边界像素坐标，并基于多维涂覆特征中的实际涂覆区域的边界形态特征确定出实际涂覆区域图像中的所有边界像素坐标； 利用傅里叶描述子量化目标涂覆区域图像中的所有边界像素坐标和实际涂覆区域图像中的所有边界像素坐标，获得目标涂覆区域图像中所有边界像素坐标的离散傅里叶变换的所有傅里叶系数和实际涂覆区域图像中边界像素坐标的离散傅里叶变换的所有傅里叶系数； 基于目标涂覆区域图像中所有边界像素坐标的离散傅里叶变换的所有傅里叶系数和实际涂覆区域图像中边界像素坐标的离散傅里叶变换的所有傅里叶系数以及多维涂覆特征中的厚度分布特征构建出缺陷判定函数: ,式中，为实际涂覆区域图像中的像素坐标，为边界形态特征的权重系数，为傅里叶系数的总数，为目标涂覆区域图像中所有边界像素坐标的离散傅里叶变换的第个傅里叶系数，为实际涂覆区域图像中边界像素坐标的离散傅里叶变换的第个傅里叶系数，为厚度分布特征的权重系数，为实际涂覆区域图像中坐标为的像素的邻域内像素集合，为实际涂覆区域图像中坐标为的像素的邻域内像素集合中的第个像素处的厚度值，为实际涂覆区域图像中坐标为的像素的邻域内像素集合的所有像素处的厚度值均值； 基于缺陷判定函数确定出实际涂覆区域图像中每个像素处的缺陷判定值； 基于实际涂覆区域图像中每个像素处的缺陷判定值和涂抹装置的实时运行参数数据分析出软膏涂覆层的缺陷定位数据，包括： 基于涂抹装置的实时运行参数数据和缺陷可能性评估模型分析出实际涂覆区域图像中每个像素处的缺陷可能性得分值； 基于实际涂覆区域图像中每个像素处的缺陷判定值和缺陷可能性得分值计算出实际涂覆区域图像中每个像素处的最终缺陷判定值； 基于实际涂覆区域图像中所有像素处的最终缺陷判定值获得软膏涂覆层的缺陷定位数据； S4：基于软膏涂覆层的缺陷定位数据生成涂覆质量检测报告。

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