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龙图腾网获悉深圳市塔联科技有限公司申请的专利一种基于识别模型的PCB生产线残缺检测分析方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119559173B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510121325.3，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于识别模型的PCB生产线残缺检测分析方法及系统是由葛展旗;高宇龙;余福波设计研发完成，并于2025-01-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于识别模型的PCB生产线残缺检测分析方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于识别模型的PCB生产线残缺检测分析方法及系统，具体涉及PCB质量检测技术领域，用于解决现有技术中PCB残缺检测精度低、漏检率高的问题；通过对PCB板材全表面扫描，生成厚度分布图，采用阈值分割算法识别厚度不均区域并标记重点检测区域；通过历史生产数据分析，识别与工艺波动无关的潜在缺陷；调节光源偏振角分析反射率差异，结合材料微观结构识别隐匿性缺陷区域。将潜在缺陷与隐匿性缺陷区域的并集标记为疑似残缺区域，并依据质量标准分析其对PCB性能的影响，从而提升检测精度与全面性，实现PCB板材的高质量控制。

本发明授权一种基于识别模型的PCB生产线残缺检测分析方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于识别模型的PCB生产线残缺检测分析方法，其特征在于，包括如下步骤： 对待检测PCB板材的全表面进行扫描，获取板材的厚度分布数据，生成对应的厚度分布图； 采用阈值分割算法识别出厚度不均匀区域，判断厚度变化是否超出预设阈值，若是，则将对应区域标记为重点检测区域； 通过历史生产数据分析重点检测区域的形变趋势，识别重点检测区域内与工艺波动无关的潜在缺陷； 通过调节光源偏振角分析重点检测区域的反射率差异，结合材料微观结构评估反射特性变化，识别重点检测区域内的隐匿性缺陷，具体为： 根据重点检测区域的材质特点调节光源的偏振角度； 在不同偏振角度下，采集重点检测区域的多角度反射数据； 结合材料微观结构特性分析多角度反射数据，识别反射特性中的异常变化； 根据反射特性中的异常变化，识别重点检测区域内的隐匿性缺陷区域； 基于重点检测区域内与工艺波动无关的潜在缺陷和重点检测区域内的隐匿性缺陷，初步检测出重点检测区域的疑似残缺区域，具体为： 在重点检测区域内，将形变潜在缺陷区域和隐匿性缺陷区域的并集对应的区域标记为疑似残缺区域； 对疑似残缺区域依据预设的质量标准进行进一步分析，判断其对PCB性能的影响程度。

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