恭喜中国计量科学研究院赫英威获国家专利权
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龙图腾网恭喜中国计量科学研究院申请的专利定标模组及其使用方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115201793B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-13发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210745216.5,技术领域涉及:G01S7/497;该发明授权定标模组及其使用方法是由赫英威;甘海勇;吴厚平;王英策;孙若端;郑春弟;冯国进设计研发完成,并于2022-06-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本定标模组及其使用方法在说明书摘要公布了:本发明涉及反射探测技术领域,提供一种定标模组及其使用方法,所述定标模组包括:多个观察平面,多个观察平面中至少有两个观察平面所在的平面相交,多个观察平面之间具有确定的空间位置关系;每个观察平面上均设有观察区域,各个观察区域均具有对应的校准后的BRDF值;本发明通过设置多面体状的定标模组,提升了定标模组姿态与光源入射角度测定的准确性,进而提升了待测对象表面的BRDF特性测定的准确性。
本发明授权定标模组及其使用方法在权利要求书中公布了:1.一种定标模组的使用方法,其特征在于,所述定标模组包括: 多个观察平面,多个所述观察平面中至少有两个所述观察平面所在的平面相交,多个所述观察平面之间具有确定的相对空间位置关系; 每个所述观察平面上均设有观察区域,各个所述观察区域均具有对应校准后的BRDF值; 所述定标模组的使用方法包括以下步骤: 将定标模组置于待测对象所处的光源环境中;获取所述定标模组的第一图像信息与待测对象的第二图像信息; 基于所述第一图像信息,确定所述定标模组的姿态与光源的入射角度;基于所述第二图像信息,确定所述待测对象上感兴趣表面的第一辐射亮度值; 根据所述第一辐射亮度值,将所述感兴趣表面与观察区域相匹配,确定所述感兴趣表面在所述光源环境下的BRDF特性。
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