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龙图腾网恭喜西安紫光国芯半导体有限公司申请的专利数据比对装置、数据比对方法及芯片测试仪获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114740329B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210334591.0，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权数据比对装置、数据比对方法及芯片测试仪是由夏川;杜侃设计研发完成，并于2022-03-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本数据比对装置、数据比对方法及芯片测试仪在说明书摘要公布了：本申请涉及芯片测试技术领域。公开了一种数据比对装置、数据比对方法及芯片测试仪，该数据比对装置包括：数据比对模组，数据比对模组包括第一输入端、第二输入端和输出端；第二输入端用于连接外部设备，被配置为从外部设备接收期望数据；第一输入端用于连接芯片测试设备，芯片测试设备用于测试待测试芯片，并输出待测试芯片的测试数据，第一输入端被配置为从芯片测试设备接收测试数据；其中，响应于芯片测试设备输出测试数据，第一输入端接收测试数据，并将测试数据与期望数据进行比对，以得到数据比对结果。通过上述的数据比对装置，能够根据寄存模组存储的参数实时地比对测试数据和期望数据，保证芯片测试的实时性以及提高芯片测试效率。

本发明授权数据比对装置、数据比对方法及芯片测试仪在权利要求书中公布了：1.一种数据比对装置，其特征在于，所述数据比对装置包括： 数据比对模组，所述数据比对模组包括第一输入端和输出端； 所述第一输入端用于连接芯片测试设备，所述芯片测试设备用于测试待测试芯片，并输出所述待测试芯片的测试数据，所述第一输入端被配置为从所述芯片测试设备接收所述测试数据； 其中，响应于所述芯片测试设备输出所述测试数据，所述第一输入端接收所述测试数据，并将所述测试数据与期望数据进行比对，以得到数据比对结果； 所述数据比对结果包括测试信号和期望信号； 所述数据比对装置还包括： 信号比对模组，连接所述输出端和寄存模组，被配置为从所述输出端接收所述数据比对模组输出的所述测试信号和所述期望信号； 所述信号比对模组基于配置参数配置信号比对参数，并根据多种控制指令中的第四指令，执行将所述测试信号与所述期望信号进行比对的操作，响应于信号比对的数值满足阈值参数，得到信号比对结果；其中，所述信号比对参数包括计数深度； 所述信号比对模组包括： 计数器，连接所述寄存模组，所述计数器基于所述配置参数配置所述计数深度，并根据所述计数深度进行计数，以得到计数值； 采样器，连接所述寄存模组、所述数据比对模组和所述计数器，所述采样器根据所述多种控制指令中的第五指令，执行对所述计数值进行采样，并确定所述数据比对结果不相同时的持续时间的操作； 所述信号比对模组包括： 溢出判断电路，连接所述数据比对模组、所述寄存模组和所述计数器，所述溢出判断电路根据所述多种控制指令中的第六指令，执行获取所述数据比对模组的判断起始点，并根据所述判断起始点确定所述计数值是否溢出，以产生判断信号的操作； 所述信号比对模组包括： 比较器，连接所述寄存模组、所述采样器和所述溢出判断电路，所述比较器根据所述多种控制指令中的第七指令，执行利用所述判断信号，确定在所述持续时间内，所述计数值对应的计数个数的操作，响应于所述计数个数满足所述阈值参数，得到所述信号比对结果； 其中，响应于在所述持续时间内，所述计数值对应的计数个数不大于所述阈值参数，所述信号比对结果为所述测试数据比对相同； 响应于在所述持续时间内，所述计数值对应的计数个数大于所述阈值参数，所述信号比对结果为所述测试数据比对不相同。

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