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龙图腾网恭喜深圳市昂科技术有限公司申请的专利一种批量化芯片测试设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119916186B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510403846.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种批量化芯片测试设备是由刘超;黄斌华设计研发完成，并于2025-04-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种批量化芯片测试设备在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片测试的技术领域，尤其涉及一种批量化芯片测试设备，通过吸盘带动芯片转动将其调整至准确位置，通过清理板将残留在芯片触点上的杂质擦除，以确保芯片功能测试结果的准确性，并且，通过吸盘将芯片抵靠在清理板上后再对芯片进行角度调节，此时芯片会与清理板发生相对摩擦，即在对芯片进行角度调节过程中自动完成了芯片触点清理操作，相较于逐一处理，缩短了工艺步骤，有利于提高生产效率；一种批量化芯片测试设备，包括有承接板、承接块、电动推杆、连接块一、管道一、吸盘、管道二、清理板、检测组件、固定组件、压紧组件和驱动组件；底板上连接有驱动组件；驱动组件上连接有固定组件。

本发明授权一种批量化芯片测试设备在权利要求书中公布了：1.一种批量化芯片测试设备，包括有底板（1）；底板（1）上固接有外壳（2）；外壳（2）上连接有视觉传感器（3）；其特征在于，底板（1）上连接有驱动组件；驱动组件上连接有固定组件；驱动组件用于带动固定组件进行水平移动；固定组件上连接有承接板（4），固定组件用于对承接板（4）进行固定；承接板（4）上固接有若干个承接块（5）；驱动组件上连接有若干个电动推杆（6）；每个电动推杆（6）的伸缩端均固接有一个连接块一（7）；每个连接块一（7）上均转动连接有一个管道一（8）；驱动组件用于带动管道一（8）进行转动；每个管道一（8）上均连通有一个吸盘（9）；每个管道一（8）上均连通有一个管道二（10）；管道一（8）与管道二（10）转动连接；外壳（2）上可拆卸连接有清理板（11）；外壳（2）上连接有检测组件，检测组件用于检测芯片的触点位置；外壳（2）上连接有压紧组件，压紧组件用于将芯片压紧限位；还包括有辅助组件；承接块（5）上连接有辅助组件；辅助组件包括有圆环（2013）；每个承接块（5）上均滑动连接有一个圆环（2013）；每个圆环（2013）上均固接有至少四个L形块（2014），L形块（2014）与对应的承接块（5）接触；每个吸盘（9）上均固接有一个连接块二（2015）；每个连接块二（2015）上均固接有至少四个圆柱（2016）；每个圆柱（2016）上均固接有一个磁铁二（2017）；每个圆环（2013）上均固接有一个磁铁三（2018）；每个L形块（2014）上均固接有一个磁铁四（2019）；每个承接块（5）上均固接有至少四个磁铁五（2020），磁铁五（2020）与对应的磁铁四（2019）相接触；使得每个芯片均在清理板（11）上滑动；使用时，通过吸盘（9）带动芯片转动将其调整至准确位置，通过清理板（11）将残留在芯片触点上的杂质擦除。

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