恭喜深圳市锐能微科技有限公司苗书立获国家专利权
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龙图腾网恭喜深圳市锐能微科技有限公司申请的专利ADC芯片测试电路、方法、测试设备以及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114257244B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111501380.3，技术领域涉及：H03M1/10；该发明授权ADC芯片测试电路、方法、测试设备以及存储介质是由苗书立;李文标;刘凯设计研发完成，并于2021-12-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本ADC芯片测试电路、方法、测试设备以及存储介质在说明书摘要公布了：本发明实施例公开了一种ADC芯片测试电路、方法、测试设备以及存储介质，所述多路ADC芯片测试方法包括获取经过分压的多个模拟测试信号，将多个所述模拟测试信号一对一输入待检测的ADC芯片的多个ADC支路，采集每一所述ADC支路的输出信号，根据多个所述输出信号以及预设的第一测试标准值范围确定所述待检测ADC芯片是否为良品，上述方案解决现有技术中ADC芯片测试效率较低的技术问题。
本发明授权ADC芯片测试电路、方法、测试设备以及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种多路ADC芯片测试方法，其特征在于，所述多路ADC芯片测试方法包括； 获取经过分压的多个模拟测试信号； 将多个所述模拟测试信号一对一输入待检测ADC芯片的多个ADC支路； 采集每一所述ADC支路的输出信号； 根据多个所述输出信号以及预设的第一测试标准值范围确定所述待检测ADC芯片是否为良品； 所述根据多个所述输出信号以及预设的第一测试标准值范围确定所述待检测ADC芯片是否为良品的步骤包括： 任意选中一所述输出信号，并判断所述输出信号是否处于预设的第一测试标准值范围； 若当前所述输出信号处于预设的第一测试标准值范围时，将剩余的所述输出信号分别与当前所述输出信号进行取比值； 若每一所述输出信号与当前所述输出信号的比值均满足第二测试标准值范围时，确定当前待检测ADC芯片为良品。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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