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龙图腾网获悉西安简矽技术有限公司申请的专利生成可测试性设计架构的方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119180259B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411623493.4，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权生成可测试性设计架构的方法、装置、设备及存储介质是由王盼盼;黄新东;于天笑设计研发完成，并于2024-11-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本生成可测试性设计架构的方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本公开提供了一种生成可测试性设计架构的方法、装置、设备及存储介质，属于可测性设计技术领域，该生成可测试性设计架构的方法包括：获取待测芯片设计规划中的项目信息；将项目信息解析为标准数据结构的可测试性设计DFT架构规划数据；从DFT架构规划数据中，按照模块层级结构获取模块数据并规划得到DFT架构。本公开中，根据待测芯片设计过程中的项目信息，解析得到需要的DFT架构规划数据，进而再根据各个模块的层级结构，自动规划出DFT架构，无需依赖人工经验，从而提升了设计效率且降低了出错率。

本发明授权生成可测试性设计架构的方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种生成可测试性设计架构的方法，其特征在于，所述方法包括： 获取待测芯片设计规划中的项目信息； 将所述项目信息解析为标准数据结构的可测试性设计DFT架构规划数据； 从所述DFT架构规划数据中，按照模块层级结构获取模块数据并规划得到DFT架构； 其中，所述项目信息包括：待测芯片中各个模块的层级信息，各个模块的布局信息，各个模块中的寄存器的数量信息；所述待测芯片中模块的层级信息指待测芯片内部不同模块的组织结构，模块之间是如何相互连接和协作；所述DFT架构规划数据包括：扫描区块结构； 所述将所述项目信息解析为标准数据结构的可测试性设计DFT架构规划数据，包括： 依据待测芯片中各个模块的层级信息、各个模块的布局信息和各个模块中的寄存器的数量信息，确定划分的扫描区块结构； 所述依据待测芯片中各个模块的层级信息、各个模块的布局信息和各个模块中的寄存器的数量信息，确定划分的扫描区块结构，包括： 依据模块的层级信息确定出规划的模块是一个独立的物理模块或者是一个子模块，独立的物理模块进行单独测试，子模块不进行单独测试； 根据模块的寄存器数量信息，确定模块大小； 根据预设的拆分策略，对于过大的模块拆分做扫描测试，比较小的模块多个合并做扫描测试，确定扫描模块，每个扫描模块需要进行扫描插入，包括插入嵌入式确定性测试，片上时钟控制器，扫描封装； 根据模块的布局信息，确定扫描模块的扫描区块结构，所述扫描区块结构描述了：哪些模块是独立进行扫描测试的，哪些模块是被划分为多个分区，每个分区独立进行扫描测试，哪些模块被合并为一个组进行扫描测试。

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