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龙图腾网恭喜苏州元脑智能科技有限公司申请的专利存储器测试装置及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119905137B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510379216.1，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权存储器测试装置及测试方法是由马亚辉设计研发完成，并于2025-03-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本存储器测试装置及测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种存储器测试装置及测试方法，可以应用于测试技术领域。该存储器测试装置包括：外壳，包括可开合的上壳和下壳，下壳内设有存储器卡槽；可调节卡槽装置，与存储器卡槽可动连接，用于调节存储器卡槽的尺寸以动态适配不同尺寸的待测试存储器的物理轮廓；传送机构，设置在与存储器卡槽相对应的位置处，用于实现待测试存储器与存储器卡槽的定位配合；下压行程控制装置，穿过上壳，用于调节下压结构的下压行程，以通过下压结构使待测试存储器下表面的导体阵列与存储器卡槽中的导电触点阵列的电连接，实现对待测试存储器的测试。

本发明授权存储器测试装置及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种存储器测试装置，其特征在于，所述存储器测试装置包括： 外壳，包括可开合的上壳和下壳，所述下壳内设有存储器卡槽； 可调节卡槽装置，与所述存储器卡槽可动连接，用于调节所述存储器卡槽的尺寸以动态适配不同尺寸的待测试存储器的物理轮廓； 其中，所述存储器测试装置还包括助推衔接器、卡槽推和牵引弹簧；所述存储器卡槽包括卡槽壁；所述可调节卡槽装置与所述助推衔接器的第一端连接，所述助推衔接器的第二端与所述卡槽推的第一端连接，所述卡槽推的第二端与所述卡槽壁连接，所述牵引弹簧的两端分别与所述卡槽推的第一端和所述下壳的内表面连接； 所述下壳的内表面设置有第一刻度齿和第二刻度齿，所述助推衔接器位于所述第一刻度齿和所述第二刻度齿之间，所述助推衔接器为箭头形状； 所述可调节卡槽装置，被配置为在向所述下壳的内部移动的过程中，推动所述助推衔接器和所述卡槽推相对于所述第一刻度齿和所述第二刻度齿移动，以使所述卡槽壁移动，从而根据所述第一刻度齿的刻度标识和或所述第二刻度齿的刻度标识，将所述存储器卡槽的尺寸调节为与所述待测试存储器的尺寸相适配； 传送机构，设置在与所述存储器卡槽相对应的位置处，用于实现所述待测试存储器与所述存储器卡槽的定位配合； 下压行程控制装置，穿过所述上壳，用于调节下压结构的下压行程，以通过所述下压结构使所述待测试存储器下表面的导体阵列与所述存储器卡槽中的导电触点阵列的电连接，实现对所述待测试存储器的测试。

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