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龙图腾网获悉爱利彼半导体设备(上海)有限公司申请的专利一种半导体加热盘质量检测装置及检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119936548B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510430466.3，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权一种半导体加热盘质量检测装置及检测方法是由郭高朋;常强设计研发完成，并于2025-04-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种半导体加热盘质量检测装置及检测方法在说明书摘要公布了：本发明属于加热盘质量检测技术领域，具体涉及一种半导体加热盘质量检测装置及检测方法，包括：装置壳体，所述装置壳体内利用隔板分隔成腔室一和腔室二，所述腔室一内设置有用于安放半导体加热盘的放置机构，所述放置机构的上方设置有受热机构，所述腔室二内设置有冷却机构；所述腔室一和腔室二的外侧端分别对应设置有门体一和门体二，所述门体一上安装有控制面板；利用控制面板控制向半导体加热盘输出不同的电流，使半导体加热盘产生不同的功率，检测出半导体加热盘在不同功率下的使用寿命，通过控制面板控制向半导体加热盘输入的电流大小，从而可以检测在该电流下，所产生的实际功率下，能够正常使用的实际寿命。

本发明授权一种半导体加热盘质量检测装置及检测方法在权利要求书中公布了：1.一种半导体加热盘质量检测装置，其特征在于：包括：装置壳体（1），所述装置壳体（1）内利用隔板（11）分隔成腔室一（12）和腔室二（13），所述腔室一（12）内设置有用于安放半导体加热盘（5）的放置机构（2），所述放置机构（2）的上方设置有受热机构（3），所述腔室二（13）内设置有冷却机构（4）； 所述腔室一（12）和腔室二（13）的外侧端分别对应设置有门体一（14）和门体二（15），所述门体一（14）上安装有控制面板（6）； 所述放置机构（2）包括有在腔室一（12）内移动设置的放置台（21），所述半导体加热盘（5）放置在放置台（21）上； 所述受热机构（3）包括有蓄液箱（31），所述冷却机构（4）包括有冷却箱（41），所述蓄液箱（31）与所述冷却箱（41）之间通过蒸发管（36）和回流管（37）进行连通设置； 所述半导体加热盘（5）与所述控制面板（6）之间通过导线进行电性连接； 利用控制面板（6）控制向半导体加热盘（5）输出不同的电流，使半导体加热盘（5）产生不同的功率，检测出半导体加热盘（5）在不同功率下的使用寿命。

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