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龙图腾网获悉亚绝材料科技(上海)有限公司申请的专利一种基于光学原理的漆包线绝缘厚度及导体测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120043452B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510239011.3，技术领域涉及：G01B11/06；该发明授权一种基于光学原理的漆包线绝缘厚度及导体测量方法是由郑昌军;王传龙;张桓瑞;韩宜鹏设计研发完成，并于2025-03-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于光学原理的漆包线绝缘厚度及导体测量方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于光学原理的漆包线绝缘厚度及导体测量方法，属于光学测量领域；解决了漆包线绝缘厚度和导体测量效率低的问题；具体如下：步骤S1：获取指标数据；步骤S2：构建出入射距离方程，并根据指标数据计算标准比例系数和比例系数，判断漆包线是否合格；若合格，则不处理，若不合格，则测算绝缘层厚度和导体半径；步骤S3：根据出入射距离方程计算漆包线的绝缘层厚度和导体半径，得到检查报告；步骤S4：对每条漆包线的绝缘层厚度和导体半径进行测算，更新检查报告；本发明通过对漆包线的相关数据进行获取、分析和处理，测算漆包线的绝缘层厚度和导体半径，提高测量效率。

本发明授权一种基于光学原理的漆包线绝缘厚度及导体测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于光学原理的漆包线绝缘厚度及导体半径测量方法，其特征在于，所述方法包括： 步骤S1：获取漆包线绝缘层的标准厚度、绝缘材料的折射率、漆包线导体的标准半径、激光的波长以及干涉仪光源到屏幕的距离，作为指标数据； 步骤S2：调整激光的入射角度，统计光程差和干涉条纹宽度；构建出入射距离方程，激光的出入射距离方程为： 其中，α和β分别表示入射角和折射角，r表示漆包线导体的标准半径； d表示漆包线绝缘层的预设厚度；将il重定义为激光的出入射距离； 并根据指标数据计算激光的标准出入射距离和标准光程差，得到标准比例系数；基于光程差和干涉条纹宽度，计算激光在各入射角的比例系数；将干涉仪光源到屏幕的距离记作Ll，定义计算式1-1： tadi＝λ×Llixi；其中，激光在绝缘层内传播时的波长记作λ，tadi表示入射角为i°时激光的一次出入射距离，ixi表示入射角为i°时激光的光程差；i表示角度，i的取值范围为：1～360； 定义计算式1-2： 其中，将激光的波长记作λ0，tbdi表示入射角为i°时激光的二次出入射距离，iwi表示入射角为i°时激光的干涉条纹宽度；i表示角度，i的取值范围为：1～360； 定义计算式1-3：ttdi＝tadi+tbdi2；其中，ttdi表示入射角为i°时激光的真实出入射距离； 定义计算式1-5：tdwi＝ttdiixi；其中，ttdi表示入射角为i°时激光的真实出入射距离，ixi表示入射角为i°时激光的光程差，tdwi表示激光入射角为i°时出入射距离与光程差的比例系数；i表示角度，i的取值范围为：1～360；根据标准比例系数和各入射角的比例系数，判断漆包线是否合格；若合格，则跳过步骤S3，若不合格，则分析比例系数，测算漆包线的绝缘层厚度和导体半径； 步骤S3：对比例系数进行分析，判断漆包线的绝缘层厚度是否均匀；若均匀，则根据标准比例系数记作绝缘层厚度，并结束步骤；若不均匀，则根据出入射距离方程计算漆包线的绝缘层厚度和导体半径，得到检查报告； 步骤S4：获取全部漆包线的数量，并对每条漆包线的绝缘层厚度和导体半径进行测算，剔除不合格产品，更新检查报告。

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