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申请/专利权人:福建华佳彩有限公司
摘要:本发明公开了一种改善SourceLine暗线的方法,包括如下步骤:S1:采用光罩或者沉膜方式,使用物理气象成膜PVD和化学气象成膜CVD分别对金属和无机化合物进行成膜,实现良好的成膜效果,通过成膜,曝光显影,蚀刻,剝膜的制程完成TFT制作;S2:在两层金属的重叠处,增加BC层或者PE层中下层金属画素Vcom金属走线宽度;S3:将Vcom中的宽度从W1加宽至W2,降低画素的RCloading,使得BC层或者PE层中金属线上的光阻不会因为Vcom在金属两侧。本发明在两层金属的重叠处,增加BC层或者PE层中下层金属画素Vcom金属走线宽度,使得BC层或者PE层中金属线上的光阻不会因为Vcom在金属两侧,Vcom金属的在线光阻也不会变薄,进而避免GI绝缘层出现破孔的情况,提升面板良率,降低生产成本。
主权项:1.一种改善SourceLine暗线的方法,其特征在于:包括如下步骤:S1:采用光罩或者沉膜方式,使用物理气象成膜PVD和化学气象成膜CVD分别对金属和无机化合物进行成膜,实现良好的成膜效果,通过成膜,曝光显影,蚀刻,剝膜的制程完成TFT制作;S2:在两层金属的重叠处,增加BC层或者PE层中下层金属画素Vcom金属走线宽度;S3:将Vcom中的宽度从W1加宽至W2,降低画素的RCloading,使得BC层或者PE层中金属线上的光阻不会因为Vcom在金属两侧。
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