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申请/专利权人：株式会社理光
申请日：2022-03-01
公开（公告）日：2022-09-20
公开（公告）号：CN115078368A
专利技术分类：..测试瑕疵、缺陷或污点的存在[2006.01]
专利摘要：本发明涉及色斑评价装置、色斑评价系统、色斑评价方法、存储介质以及计算机装置，其目的在于正确评价色斑。本发明的色斑评价装置100包括摄像部2，用于拍摄对象物S的图像；被投影部件3，映照在所述对象物S的表面上；以及输出部，用于输出基于所述摄像部拍摄的摄像图像而得到的所述对象物的色斑评价值，所述摄像图像包含映照在所述对象物的表面上的所述被投影部件的像。
专利权项：1.一种色斑评价装置，其中包括摄像部，用于拍摄对象物的图像；被投影部件，映照在所述对象物的表面上；以及输出部，用于输出基于所述摄像部拍摄的摄像图像而得到的所述对象物的色斑评价值，所述摄像图像包含映照在所述对象物的表面上的所述被投影部件的像。
百度查询： 株式会社理光 色斑评价装置、色斑评价系统、色斑评价方法以及存储介质
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皖公网安备 34010402703815号