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申请/专利权人：合肥松豪电子科技有限公司
摘要：本发明提出了一种应用于TDDI芯片遇到小坑时触控面板TP的扫描方法，包括以下步骤：S1、亮屏模式下，设置触控面板TP的默认扫描方式是第一扫描模式LongHMode；S2、在该模式下，当检测到触控面板TP的扫描信号处于H_Te下降沿时，触控面板TP开始扫描，在第一个坑内触控面板TP电路的CA进行充电，在第二个坑内进行AD的采样。基于本方案，虽然坑的长度不够扫描一次，通过软件配置，让触控面板TP在第一个坑内进行CA的充电，在第2个坑内进行AD的采样，2个坑扫一次也可以避开显示面板DP信号干扰，从而消除BASE差现象。
主权项：1.应用于TDDI芯片遇到小坑时触控面板TP的扫描方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、亮屏模式下，设置触控面板TP的默认扫描方式是第一扫描模式LongHMode；S2、在该模式下，判断小坑长度是否够TP完成一次扫描，当小坑长度够TP完成一次扫描时，进入步骤S3，当长度不够TP完成一次扫描时采用2个坑够TP完成一次扫描，进入步骤S4；S3、当检测到触控面板TP的扫描信号TP处在LongHMode，当检测到H_Te下降沿，TP开始扫描，P1为TP电路的CA进行充电，Adc_sh为AD的采样信号；S4、当检测到触控面板TP的扫描信号处于H_Te下降沿时，触控面板TP开始扫描，在第一个坑内触控面板TP电路的CA进行充电，在第二个坑内进行AD的采样。
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权利要求：
百度查询： 合肥松豪电子科技有限公司 应用于TDDI芯片遇到小坑时触控面板TP的扫描方法
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