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在Hastelloy合金基带上制备CeO2薄膜的方法 

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申请/专利权人:南宁师范大学

摘要:本发明公开了一种在Hastelloy合金基带上制备CeO2薄膜的方法,其在氧氛围下,对Hastelloy合金基带进行退火处理,退火处理条件为:升温速率为0.7‑55℃s,升温至850‑900℃,恒温5‑30min,然后自然冷却至室温;然后在经退火处理的Hastelloy合金基带表面制备CeO2薄膜。本发明方法通过对Hastelloy合金基带进行预处理,使其表面生成以NiO为主的金属氧化物薄膜,改善其表面环境,从而创造出适宜CeO2薄膜择优取向的条件,解决了以往方法所生长的CeO2薄膜多为111取向的问题,同时相较于其他预处理方法,显著降低了成本和难度。

主权项:1.在Hastelloy合金基带上制备CeO2薄膜的方法,其特征在于,在氧氛围下,对Hastelloy合金基带进行退火处理;然后在经退火处理的Hastelloy合金基带表面制备CeO2薄膜。

全文数据:

权利要求:

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