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【发明公布】基于侧信道信息的HDL脆弱性分析工具的评估方法_中物院成都科学技术发展中心;成都市明翔信息技术有限公司_202310421237.6 

申请/专利权人:中物院成都科学技术发展中心;成都市明翔信息技术有限公司

申请日:2023-04-19

公开(公告)日:2023-07-18

公开(公告)号:CN116450517A

主分类号:G06F11/36

分类号:G06F11/36

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.08.04#实质审查的生效;2023.07.18#公开

摘要:本发明公开了一种基于侧信道信息的HDL脆弱性分析工具的评估方法,包括静态评估和动态评估;静态评估包括:分析测试场景,确认参数K和参数H的范围;选择若干个静态测试用例准备进行测试;A3:设置分析工具的测试参数;计算获取不同测试参数下的静态指标,获得测试结果。动态评估包括:根据测试场景,选定测试芯片以及侧信道信号采集组件;对目标测试芯片进行区域划分,选择动态测试用例,对各区域进行侧信道信号采集;采集侧信道信号,获取各区域的分辨率和对应概率;计算一致性指标及均值。本发明提供了HDL代码脆弱性分析工具效用评估体系,实现了对HDL代码脆弱性分析工具效用的评估。

主权项:1.一种基于侧信道信息的HDL脆弱性分析工具的评估方法,其特征在于,方法包括静态评估和动态评估;所述静态评估,具体过程如下:A1:分析测试场景,确认HDL代码单元模块最大层数K和门翻转次数总数H的范围;A2:根据确定的HDL代码单元模块最大层数K和门翻转次数总数H的范围,选择若干个静态测试用例准备进行测试;A3:设置待评估的脆弱性分析工具的测试参数,所述测试参数为该工具当前可识别HDL代码单元模块层数;A4:基于该脆弱性分析工具对测试用例进行测试,计算获取不同测试参数下的静态指标,获得测试结果;所述动态评估,具体过程如下:B1:根据测试场景,选定测试芯片以及侧信道信号采集组件;B2:对目标测试芯片进行区域划分,并根据划分区域,选择动态测试用例,对各区域进行侧信道信号采集;B3:设置侧信道信号采集重复次数和概率阈值,对划分的各区域基于对应的动态测试用例,进行重复的侧信道信号采集,获取各区域的分辨率和对应概率;B4:根据分辨率调节动态测试用例,进行一致性指标测试,并通过重复进行一致性指标测试,计算一致性指标均值;所述一致性指标,表示区域内侧信道信号检测抗相邻区域侧信道信号影响的能力。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中物院成都科学技术发展中心;成都市明翔信息技术有限公司 基于侧信道信息的HDL脆弱性分析工具的评估方法

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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
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