申请/专利权人：珠海精科智创科技有限公司

申请日：2023-04-28

公开（公告）日：2023-09-26

公开（公告）号：CN219757975U

主分类号：G01N3/32

分类号：G01N3/32;G01N3/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.09.26#授权

摘要：本实用新型涉及一种新型ICC芯片卡片疲劳测试设备，其包括机箱，机箱的上侧安装有两个固定座，两个固定座的上侧均沿机箱的长度方向滑动安装有第一安装座，第一安装座的上侧设置有锁紧螺栓，两个第一安装座的相对面均沿其高度方向滑动安装有第一滑块，第一滑块的外侧安装有重力头，重力头的底部安装有测试滚轮，重力头的顶部安装有砝码柱。通过增减砝码来改变测试滚轮的下压力，进而改变施加在卡片上的重力，能反应卡片更真实的工况，测试效果好，且能够同时测试两张卡，提高检测效率，并且通过第一插销孔、第二插销孔以及旋钮柱塞的设置，同时检测的两张卡片也可是不同型号的，换型方便，对卡片的装夹定位调节也更加快捷精准。

主权项：1.一种新型ICC芯片卡片疲劳测试设备，包括机箱（100），其特征在于：所述机箱（100）的上侧安装有两个固定座（102），两个所述固定座（102）的上侧均沿所述机箱（100）的长度方向滑动安装有第一安装座（103），所述第一安装座（103）的上侧设置有锁紧螺栓（119），两个所述第一安装座（103）的相对面均沿其高度方向滑动安装有第一滑块（104），所述第一滑块（104）的外侧安装有重力头（105），所述重力头（105）的底部安装有测试滚轮（106），所述重力头（105）的顶部安装有砝码柱（107）；所述第一安装座（103）的外侧安装有安装块（200），所述安装块（200）的下侧安装有微分头（201），且所述微分头（201）的伸缩端贯穿所述安装块（200）的内部与所述第一滑块（104）的下侧抵接；所述机箱（100）的上侧沿其宽度方向滑动安装有第二安装座（117），所述第二安装座（117）上表面的两侧均沿所述第二安装座（117）的长度方向滑动安装有第二滑块（108），所述第二滑块（108）的上侧设置有压板（109），所述第二滑块（108）的上侧安装有导向杆（114），且所述导向杆（114）的上端贯穿所述压板（109）的内部延伸至其外侧，所述压板（109）的上侧设置有夹紧螺栓（110）；所述第二安装座（117）的上侧沿其长度方向安装有侧板（101），所述侧板（101）的上侧分别开设有第一插销孔（111）和第二插销孔（112），所述第二滑块（108）的外侧安装有两个凸块（118），两个所述凸块（118）上均设置有旋钮柱塞（113），且两个所述旋钮柱塞（113）分别与所述第一插销孔（111）和所述第二插销孔（112）插接配合，并且两个所述旋钮柱塞（113）之间的距离小于所述第一插销孔（111）和所述第二插销孔（112）之间的距离；所述机箱（100）的上侧安装有电机（115），所述电机（115）输出轴的端部连接有滚珠丝杆（116），所述滚珠丝杆（116）的外表面设置有螺母座，其所述螺母座与所述第二安装座（117）连接；所述机箱（100）的上表面设置有砝码（400），所述砝码（400）与所述砝码柱（107）相适配。

全文数据：

权利要求：

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