申请/专利权人：美光科技公司

申请日：2023-07-05

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN117912531A

主分类号：G11C29/12

分类号：G11C29/12

优先权：["20221018 US 17/968,717"]

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.04.19#公开

摘要：本申请案涉及mBIST操作期间的基于温度的错误屏蔽。描述与自测试结果的屏蔽相关的方法、设备及系统。存储器装置可包含自测试电路，所述自测试电路经配置以在所述存储器装置的温度超过温度阈值时选择性地暂停从自测试的一或多个部分收集测试结果。

主权项：1.一种设备，其包括：功能电路，其经配置以提供一组功能；数据存储装置，其能够进行配置以存储自测试结果；内置自测试BIST电路，其耦合到所述功能电路及所述数据存储装置，所述BIST电路经配置以使用所述功能电路实施自测试且产生所述自测试结果；及错误屏蔽电路，其耦合到所述数据存储装置，所述错误屏蔽电路经配置以：接收特性化所述功能电路的温度的温度数据，确定所述温度数据是否超过温度阈值，及基于所述温度数据是否超过所述温度阈值，将所述自测试结果存储在所述数据存储装置中。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 美光科技公司 MBIST操作期间的基于温度的错误屏蔽

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