申请/专利权人：南京大学

申请日：2024-01-29

公开（公告）日：2024-04-26

公开（公告）号：CN117929798A

主分类号：G01Q60/22

分类号：G01Q60/22;G01Q60/18;G01Q60/20;B82Y15/00;B82Y30/00;B82Y40/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.14#实质审查的生效;2024.04.26#公开

摘要：本发明公开了一种多纳米颗粒修饰的光纤探针技术，包括：在透明衬底上进行混合组装；在透明衬底附近设置观测模块；制作光纤探针；利用近场扫描光学显微镜的压电扫描系统，对光纤探针尖端进行多种纳米颗粒的修饰。如果通过近场扫描拾取不同数量的纳米颗粒，则可对光纤探针的尖端进行定量修饰。本发明提供的一种多纳米颗粒修饰的光纤探针技术，可以根据近场扫描光学显微镜的反馈值在光纤探针尖端定量修饰纳米颗粒，且可以与纳米颗粒静电组装方法结合实现多种功能纳米颗粒的修饰。

主权项：1.一种多纳米颗粒修饰的光纤探针技术，其特征在于，包括：在透明衬底上进行混合组装，所述混合组装是指在同一个位点上组装N种不同功能的纳米颗粒，混合组装后透明衬底上包括若干个静电组装点阵；在透明衬底附近设置观测模块，所述观测模块用于对N种不同功能纳米颗粒以及光纤尖端实时定位；通过激光拉锥单模光纤制成光纤探针，先对光纤探针进行氧等离子体处理，再将光纤探针置于APTMS和丙酮的混合液中进行表面功能化处理，处理后的光纤尖端表面偶连有氨基，所述光纤探针通过石英晶振竖向设置于所述透明衬底的上方；将石英晶振连接于压电扫描器件，压电扫描器件与扫描反馈器件相连，扫描反馈器件用于控制压电扫描器件中的压电陶瓷在XY方向扫描，同时在Z方向实时控制光纤探针的针尖与纳米颗粒之间的距离；当压电扫描器件控制光纤探针下降到透明衬底的表面附近时，迅速增大的剪切力影响光纤探针的振幅，进而引起感应电流的变化，扫描反馈器件根据所述感应电流的变化控制压电扫描器件带动光纤探针以剪切力模式在透明衬底表面进行近场扫描，当光纤探针的针尖与纳米颗粒表面的距离小于10nm时，二者之间的范德华力极大增强，并且由于探针针尖的氨基与纳米颗粒阳离子之间的配位相互作用，使得光纤探针成功修饰N种纳米颗粒；如果通过近场扫描拾取不同数量的纳米颗粒，则可对光纤探针的尖端进行定量修饰。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 南京大学 一种多纳米颗粒修饰的光纤探针技术

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