申请/专利权人:芯云半导体(诸暨)有限公司
申请日:2023-12-21
公开(公告)日:2024-04-26
公开(公告)号:CN117929265A
主分类号:G01N21/01
分类号:G01N21/01;G01N21/892
优先权:
专利状态码:在审-公开
法律状态:2024.04.26#公开
摘要:本发明涉及芯片检测技术领域,具体为一种tray盘置料视觉检测结构及视觉检测系统,包括工作台,所述工作台上设有沿着工作台进行移动的tray盘且该tray盘用于放置物料,所述工作台中设有用于带动tray盘进行移动且能对tray盘进行限位的限位结构,所述工作台上设有与工作台相连的立架,所述立架中设有沿着立架进行上下位移且能对tray盘中的物料进行检测的视觉检测结构。该一种tray盘置料视觉检测结构及视觉检测系统,同现有技术相比,可以有效检测置料不正,产品搭在Tray外面以及出现空料等异常现象,从而减少压坏产品而造成的品质异常等问题。
主权项:1.一种tray盘置料视觉检测结构,包括工作台(1),其特征在于:所述工作台(1)上设有沿着工作台(1)进行移动的tray盘(2)且该tray盘(2)用于放置物料,所述工作台(1)中设有用于带动tray盘(2)进行移动且能对tray盘(2)进行限位的限位结构(3),所述工作台(1)上设有与工作台(1)相连的立架(4),所述立架(4)中设有沿着立架(4)进行上下位移且能对tray盘(2)中的物料进行检测的视觉检测结构(5)。
全文数据:
权利要求:
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