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【发明公布】用于光谱恢复的成像像素处理方法_北京与光科技有限公司_202211255006.4 

申请/专利权人:北京与光科技有限公司

申请日:2022-10-13

公开(公告)日:2024-04-26

公开(公告)号:CN117928729A

主分类号:G01J3/28

分类号:G01J3/28;G01J3/02

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.05.14#实质审查的生效;2024.04.26#公开

摘要:本申请涉及一种用于光谱恢复的成像像素处理方法。该方法包括:确定光谱成像设备的滤光结构的空间周期的边长和邻域像素数目;基于当前用于光谱恢复的成像像素坐标对应的响应信号向量的位置序号确定虚位相对坐标;基于所述滤光结构的空间周期的边长、所述虚位相对坐标和所述当前用于光谱恢复的成像像素坐标确定虚辅助位列表;基于归属于所述虚辅助位列表的虚辅助位坐标对应的所述图像传感器的响应信号值,和所述虚辅助位坐标与所述当前用于光谱恢复的成像像素坐标之间的闵式距离得到虚位插值;以及,基于所述虚位差值按照所述位置序号得到当前用于光谱恢复的成像像素坐标对应的已处理响应信号向量。这样,可以使得恢复的光谱图像具有更小的误差和更高的空间分辨率。

主权项:1.一种用于光谱恢复的成像像素处理方法,其特征在于,包括:确定光谱成像设备的滤光结构的空间周期的边长和邻域像素数目;基于所述滤光结构的空间周期的边长、邻域像素数目和当前用于光谱恢复的成像像素坐标对应的响应信号向量的位置序号确定虚位相对坐标;基于所述滤光结构的空间周期的边长、所述虚位相对坐标和所述当前用于光谱恢复的成像像素坐标确定虚辅助位列表;基于归属于所述虚辅助位列表的虚辅助位坐标对应的所述图像传感器的响应信号值,和所述虚辅助位坐标与所述当前用于光谱恢复的成像像素坐标之间的闵式距离得到虚位插值;以及基于所述虚位差值按照所述位置序号得到当前用于光谱恢复的成像像素坐标对应的已处理响应信号向量。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京与光科技有限公司 用于光谱恢复的成像像素处理方法

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