申请/专利权人：中国工程物理研究院机械制造工艺研究所

申请日：2024-01-29

公开（公告）日：2024-04-26

公开（公告）号：CN117928449A

主分类号：G01B21/00

分类号：G01B21/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.14#实质审查的生效;2024.04.26#公开

摘要：本发明公开了一种基于机器臂的接触式五维位姿自动测量装置，包括六轴机器臂、控制机构、测量机构及处理系统，所述六轴机器臂的自由端能够移动至三维空间的任意一个坐标；所述控制机构与所述六轴机器臂连接，用于控制所述六轴机器臂；所述测量机构设于所述六轴机器臂的自由端，所述测量机构设有至少两根测杆，所述测杆的端部设有测头，所述测头用于对被测物体进行接触式测量；所述处理系统与所述测量机构连接，用于记录所述测杆与被测物体接触点的全部坐标，以形成坐标组，并对所述坐标组进行处理，以模拟被测物体的位姿。其面向自动化装配，能够解决现有的非接触式测量装置测量鲁棒性差导致无法准确测量相对位姿的问题。

主权项：1.一种基于机器臂的接触式五维位姿自动测量装置，其特征在于，包括：六轴机器臂10，所述六轴机器臂10的自由端能够移动至三维空间的任意一个坐标；控制机构，所述控制机构与所述六轴机器臂10连接，用于控制所述六轴机器臂10；测量机构，所述测量机构设于所述六轴机器臂10的自由端，所述测量机构设有至少两根测杆20，所述测杆20的端部设有测头201，所述测头201用于对被测物体进行接触式测量；处理系统，所述处理系统与所述测量机构连接，用于记录所述测头201与被测物体接触点的全部坐标，以形成坐标组，并对所述坐标组进行处理，以模拟被测物体的位姿。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所 一种基于机器臂的接触式五维位姿自动测量装置

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