申请/专利权人：中兴通讯股份有限公司

申请日：2022-10-14

公开（公告）日：2024-04-26

公开（公告）号：CN117930066A

主分类号：G01R31/40

分类号：G01R31/40;G01R31/42

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.04.26#公开

摘要：本发明涉及设备测试领域，尤其涉及一种设备测试方法、测试设备和存储介质，该设备测试方法包括：获取待测试的目标设备中的第一测试组件对应的第一配置文件；根据第一配置文件生成第二配置文件，并根据第二配置文件对测试设备进行组件配置，获得与第一测试组件匹配的第二测试组件；根据第二测试组件对第一测试组件进行测试。通过根据目标设备中的第一测试组件对应的第一配置文件生成第二配置文件，并根据第二配置文件对测试设备进行组件配置，根据得到的第二测试组件对第一测试组件进行测试，可以实现基于同一个测试设备对目标设备中的不同组件进行差异化测试，提高了设备测试的通用性。

主权项：1.一种设备测试方法，应用于测试设备中，所述方法包括：获取待测试的目标设备中的第一测试组件对应的第一配置文件；根据所述第一配置文件生成第二配置文件，并根据所述第二配置文件对所述测试设备进行组件配置，获得与所述第一测试组件匹配的第二测试组件；根据所述第二测试组件对所述第一测试组件进行测试。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中兴通讯股份有限公司 设备测试方法、测试设备和存储介质

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