申请/专利权人：机械工业仪器仪表综合技术经济研究所

申请日：2024-01-09

公开（公告）日：2024-04-26

公开（公告）号：CN117541067B

主分类号：G06Q10/0635

分类号：G06Q10/0635;G06Q50/04

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.26#授权;2024.03.01#实质审查的生效;2024.02.09#公开

摘要：本发明公开了一种流程智能工厂的风险分析方法，包括以下步骤：S1：获取流程智能工厂的待分析工艺参数；S2：获取待分析工艺参数所匹配的引导词；S3：获取偏差导致的后果；获取导致偏差的直接原因；基于导致偏差的直接原因获取导致偏差的间接原因；S4：基于导致偏差的间接原因和偏差导致的后果获得偏差导致的初始风险；基于安全措施和初始风险获取偏差导致的残余风险；基于残余风险获得风险分析结果；S5：获取与待分析工艺参数匹配的下一个引导词，重复S3‑S4，直到待分析工艺参数的可匹配引导词全部分析完毕；S6:获取下一个待分析工艺参数，重复S2‑S5，直到所有待分析工艺参数分析完毕。本发明可以综合、全面、准确的分析流程智能工厂存在的风险。

主权项：1.一种流程智能工厂的风险分析方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：获取流程智能工厂的待分析工艺参数；S2：获取待分析工艺参数所匹配的引导词；S3：获取偏差导致的后果；其中，待分析工艺参数和引导词构成所述偏差；获取导致偏差的直接原因；基于导致偏差的直接原因获取导致偏差的间接原因；S4：基于导致偏差的间接原因和偏差导致的后果获得偏差导致的初始风险；基于安全措施和初始风险获取偏差导致的残余风险；基于残余风险获得风险分析结果；若所述间接原因为信息域威胁、信息域漏洞和耦合域漏洞：S431：获取一组信息域威胁、信息域漏洞和耦合域漏洞；S432：获取制造信息域威胁的技术难度等级；基于信息域信息安全措施和耦合域信息安全措施获得信息域漏洞与耦合域漏洞均被成功攻击的难度等级；S433：基于制造信息域威胁的技术难度等级以及信息域漏洞与耦合域漏洞均被成功攻击的难度等级获得信息域间接导致偏差的可能性等级；S434：基于信息域间接导致偏差的可能性等级以及后果的严重性等级获得信息域间接导致的初始风险等级；S435：基于物理域的安全措施获取新的可能性等级和新的严重性等级；S436：基于S435中新的可能性等级和新的严重性等级获得信息域间接导致的残余风险等级；S437：基于信息域间接导致的残余风险等级确定是否提出新的安全需求；S438：获取下一组信息域威胁、信息域漏洞和耦合域漏洞，重复S432-S437，直到所有组分析完毕；S5：获取与待分析工艺参数匹配的下一个引导词，重复S3-S4，直到待分析工艺参数的可匹配引导词全部分析完毕；S6:获取下一个待分析工艺参数，重复S2-S5，直到所有待分析工艺参数分析完毕。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所 一种流程智能工厂的风险分析方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD