申请/专利权人：合肥德瑞格光电科技有限公司

申请日：2024-03-12

公开（公告）日：2024-04-30

公开（公告）号：CN117944373A

主分类号：B41J3/01

分类号：B41J3/01;B41J3/407;B41J3/54;B41J3/44;B41M5/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.17#实质审查的生效;2024.04.30#公开

摘要：本发明公开了一种偏光片自动光学检测缺陷喷印系统及其喷印方法，该系统包括AOI延伸站光学检测系统、SA‑P延伸站二维码喷印系统、AOI涂布站光学检测系统、CA‑P1涂布站缺陷整合喷印系统以及CA‑P2涂布站缺陷喷印系统，通过AOI延伸站光学检测系统、SA‑P延伸站二维码喷印系统、CA‑P1涂布站缺陷整合喷印系统、CA‑P2涂布站缺陷喷印系统相互配合，使偏光片卷材裁切成片材后进行表面缺陷的检测时，可对偏光片上的不同类型的缺陷喷印不同的印章，有利于工人根据偏光片膜面上的印章迅速高效地挑除不良品，可节约大量的检测人工并降低由于人工眼睛疲劳导致的误检，进而可提高对偏光片缺陷检测的效率及效果。

主权项：1.一种偏光片自动光学检测缺陷喷印系统，其特征在于，包括：AOI延伸站光学检测系统，用以检测偏光片原反表面缺陷后发送相关缺陷信息一；SA-P延伸站二维码喷印系统，用以接收AOI延伸站光学检测系统发出的相关缺陷信息一并命令二维码喷印机在偏光片原反DS侧透明膜边区等同间距喷印米数以及对当前米数对应有缺陷坐标的二维码；AOI涂布站光学检测系统，用以检测与PET离型膜贴合后的偏光片的表面缺陷并发送相关缺陷信息二；CA-P1涂布站缺陷整合喷印系统，用以接收AOI涂布站光学检测系统发出的相关缺陷信息二，同时通过CA-P1涂布站缺陷整合喷印系统中的二维码读取机读取SA-P延伸站二维码喷印系统中的二维码喷印机在偏光片原反DS侧透明膜边区上喷印的二维码，得到相关缺陷信息一；根据不同缺陷设定不同的印章类型，整合后发送相关喷印信息；CA-P2涂布站缺陷喷印系统，用以接收CA-P1涂布站缺陷整合喷印系统发送的相关喷印信息，在有缺陷的膜面上根据不同缺陷喷印不同的印章。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 合肥德瑞格光电科技有限公司 一种偏光片自动光学检测缺陷喷印系统及其喷印方法

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