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申请/专利权人：三星电子株式会社
申请日：2020-08-13
公开（公告）日：2024-05-17
公开（公告）号：CN112394879B
主分类号：G06F3/06
分类号：G06F3/06;G06F11/22;G06F11/26
优先权：["20190813 KR 10-2019-0098846"]
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.05.17#授权;2022.04.08#实质审查的生效;2021.02.23#公开
摘要：一种操作存储设备的方法包括：感测流过存储设备的维持电流；基于感测的维持电流和至少一个参考值来确定在存储设备内是否已经发生产品异常；并且当确定已经发生产品异常时，执行其中顺序地执行与存储设备的操作相关联的两个或更多控制处理的步进式控制操作。
主权项：1.一种操作包括多个存储器芯片的存储设备的方法，所述方法包括：感测流过所述存储设备的存储器芯片中的每个的维持电流；对于每个感测的维持电流，当对应的感测的维持电流超过第一参考值时，将对应的存储器芯片确定为有缺陷芯片，当所述对应的存储器芯片被确定为所述有缺陷芯片时，执行识别所述多个存储器芯片当中的所述有缺陷芯片的位置的第一控制处理，以及当所述对应的感测的维持电流超过大于所述第一参考值的第二参考值时，执行顺序在所述第一控制处理之后的、用于通过减少与所述有缺陷芯片相关联的事物的数量来对所述有缺陷芯片进行节流的第二控制处理。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 三星电子株式会社 操作存储设备的方法、存储设备及操作存储系统的方法
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