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一种基于Bin-sfm摄影测量技术的岩石结构面粗糙度自动提取方法 

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申请/专利权人:长安大学

摘要:本发明公开了一种基于Bin‑sfm摄影测量技术的岩石结构面粗糙度自动提取方法,属于岩土工程技术领域,包括以下步骤:S1:基于拍摄参数自动选取算法,从不同角度均匀拍摄的原则对目标岩石的照片进行采集,得到不同相机位姿的目标岩石图像;S2:基于Bin‑SFM的拍摄方法进行拍摄;S3:采用Bin‑SFM算法求解相机位姿、稀疏点云和密集点云S4:基于所述目标岩石表面的点云,计算所述目标岩石结构面的粗糙度系数。本发明使用推荐的最佳拍摄参数组合,提高了摄影测量岩石结构面粗糙度的测量精度。

主权项:1.一种基于Bin-sfm摄影测量技术的岩石结构面粗糙度自动提取方法,其特征在于:包括以下步骤:S1:基于拍摄参数自动选取算法,从不同角度均匀拍摄的原则对目标岩石的照片进行采集,得到不同相机位姿的目标岩石图像;S2:基于Bin-SFM的拍摄方法进行拍摄;S3:采用Bin-SFM算法求解相机位姿、稀疏点云和密集点云S4:基于所述目标岩石表面的点云,计算所述目标岩石结构面的粗糙度系数。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 长安大学 一种基于Bin-sfm摄影测量技术的岩石结构面粗糙度自动提取方法

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