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申请/专利权人：青岛中微创芯电子有限公司

摘要：本发明公开了一种IPM模块老化监测方法，属于老化监测技术领域，包括以下步骤：S1、采集IPM模块在各个历史时刻的实际温度值，并对各个历史时刻的实际温度值进行处理，得到各个历史时刻的观测温度值；S2、根据各个历史时刻的观测温度值，确定IPM模块的动态评估上下限；S3、采集IPM模块在当前时刻的实际温度值，并根据IPM模块的动态评估上下限，确定IPM模块在当前时刻的老化监测结果。该方法可以精准确定IPM当前时刻的工作温度，便于用户及时发现问题，对IPM模块作出有效保护。

主权项：1.一种IPM模块老化监测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、采集IPM模块在各个历史时刻的实际温度值，并对各个历史时刻的实际温度值进行处理，得到各个历史时刻的观测温度值；S2、根据各个历史时刻的观测温度值，确定IPM模块的动态评估上下限；S3、采集IPM模块在当前时刻的实际温度值，并根据IPM模块的动态评估上下限，确定IPM模块在当前时刻的老化监测结果；所述S1中，对各个历史时刻的实际温度值进行均值插补处理，得到各个历史时刻的观测温度值；所述S2包括以下子步骤：S21、将所有历史时刻的观测温度值的均值作为观测温度参考值；S22、根据观测温度参考值以及各个历史时刻的观测温度值，为各个历史时刻生成温度观测矩阵；S23、根据各个历史时刻的温度观测矩阵，生成观测温度特征序列；S24、根据观测温度特征序列，确定IPM模块的动态评估上下限；所述S22中，第i个历史时刻的温度观测矩阵Xi的表达式为：；式中，xi表示第i个历史时刻的观测温度值，xi+1表示第i+1个历史时刻的观测温度值，x表示观测温度参考值；所述S23包括以下子步骤：S231、提取所有温度观测矩阵的奇异值，将所有奇异值的方差作为观测调整系数；S232、构建正常温度条件，筛选满足正常温度条件的温度观测矩阵；S233、根据满足正常温度条件的温度观测矩阵以及观测调整系数，确定观测温度特征序列；所述S233中，观测温度特征序列Z的表达式为：Z=z1,z2,…,zk,…,zK；；式中，z1表示满足正常温度条件的第1个温度观测矩阵对应的观测温度特征值，z2表示满足正常温度条件的第2个温度观测矩阵的观测温度特征值，zk表示满足正常温度条件的第k个温度观测矩阵的观测温度特征值，zK表示满足正常温度条件的第K个温度观测矩阵的观测温度特征值，Xk表示满足正常温度条件的第k个温度观测矩阵，λk表示满足正常温度条件的第K个温度观测矩阵的特征值，ρ表示观测调整系数，K表示满足正常温度条件的温度观测矩阵的个数；所述S24中，IPM模块的动态评估下限η1的计算公式为：；式中，Z0表示观测温度特征序列的众数，Zave表示观测温度特征序列的平均数，Z1表示观测温度特征序列的第一四分位数，Z2表示观测温度特征序列的第二四分位数，Z3表示观测温度特征序列的第三四分位数；所述S24中，IPM模块的动态评估上限η2的计算公式为：；式中，η1表示IPM模块的动态评估下限，Zmin表示观测温度特征序列的最小值。

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