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申请/专利权人：中航西安飞机工业集团股份有限公司
申请日：2024-03-05
公开（公告）日：2024-06-04
公开（公告）号：CN118131233A
主分类号：G01S13/90
分类号：G01S13/90;G01S7/41;G01R29/08
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.06.21#实质审查的生效;2024.06.04#公开
摘要：本发明公开了一种基于ISAR成像的目标电磁缺陷定位与识别方法，属于近场电磁散射测试技术领域。测量仪表系统获取目标在角域、宽频带内的近场雷达散射回波信号，通过近远场电磁散射特性关系获得目标的远场电磁散射特性，结合高分辨ISAR二维像中的散射热点分布情况，进行目标电磁缺陷的定位与识别。本申请通过对ISAR二维像散射热点的快速分析、距离与角度定位实现对于目标表面电磁缺陷的精准定位与识别，具有快速、便捷、低成本的优点，有望在目标电磁缺陷的诊断与评估方面发挥重要作用。
主权项：1.基于ISAR成像的目标电磁缺陷定位与识别方法，其特征在于，通过近场电磁散射测量系统对ISAR二维像散射热点的分析，结合目标距离及旋转角度获取目标表面电磁缺陷在特定角度、极化、频段的电磁缺陷位置与散射热点信息以实现目标电磁缺陷的定位与识别。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中航西安飞机工业集团股份有限公司 基于ISAR成像的目标电磁缺陷定位与识别方法
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皖公网安备 34010402703815号