申请/专利权人：晟芯腾跃(北京)科技有限公司

申请日：2023-10-25

公开（公告）日：2024-06-04

公开（公告）号：CN117318674B

主分类号：H03K3/027

分类号：H03K3/027;H03K17/687;H01L23/525

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.04#授权;2024.01.16#实质审查的生效;2023.12.29#公开

摘要：一种不依靠OSC产生脉冲信号的熔丝检测控制电路，涉及集成电路技术领域，由熔丝检测信号产生电路、熔丝控制信号产生电路和熔丝控制电路组成，其中：熔丝检测信号产生电路用于产生熔丝检测脉冲信号，其第一、第二和第三脉冲信号输出端均接至熔丝控制信号产生电路；熔丝控制信号产生电路接收熔丝检测脉冲信号，用于检测熔丝状态，并产生熔丝控制信号，其输出端接至熔丝控制电路；熔丝控制电路用于控制电阻连入电路或从电路中断开。本发明使得熔丝修调能够更准确、容易的实现，精简有效的脉冲发生电路不需要使用OSC电路，即节省了芯片面积又降低了设计的复杂度，同时降低了功耗。

主权项：1.一种不依靠OSC产生脉冲信号的熔丝检测控制电路，其特征在于：由熔丝检测信号产生电路、熔丝控制信号产生电路和熔丝控制电路组成；所述熔丝检测信号产生电路用于产生熔丝检测脉冲信号，其第一脉冲信号输出端（VPULSE1）、第二脉冲信号输出端（VPULSE2）、第三脉冲信号输出端（VPULSE3）均接至熔丝控制信号产生电路；所述熔丝控制信号产生电路接收所述熔丝检测脉冲信号，用于检测熔丝状态，并产生熔丝控制信号，其熔丝控制信号输出端（CTRL）接至熔丝控制电路；所述熔丝控制电路输入端接熔丝控制信号产生电路的熔丝控制信号输出端（CTRL），用于控制电阻连入电路或从电路中断开；所述熔丝检测信号产生电路的结构为：第一PMOS管（M1）栅极接第二NMOS管（M2）栅极形成第二参考点（B），其源极接电源VIN，其漏极接第二NMOS管（M2）漏极及第十七PMOS管（M17）栅极形成第六参考点（F）；第二NMOS管（M2）源极接地；第十七PMOS管（M17）源极通过第三电阻（R3）接电源VIN，漏极通过依次串联的第一电阻（R1）、第二电阻（R2）接第七NMOS管（M7）漏极形成第七参考点（G）；第七NMOS管（M7）、第八NMOS管（M8）、第九NMOS管（M9）、第十NMOS管（M10）、第十一NMOS管（M11）的栅极均接至第七参考点（G），其源极均接至第六参考点（F）；第八NMOS管（M8）漏极接第十六NMOS管（M16）漏极形成第四参考点（D）；第九NMOS管（M9）漏极接第十NMOS管（M10）漏极及第十六NMOS管（M16）源极；第十六NMOS管（M16）栅极接地；第十一NMOS管（M11）漏极接第十四NMOS管（M14）漏极形成第五参考点（E）；第十二NMOS管（M12）栅极接第七参考点（G），其源极接地；第十三NMOS管（M13）、第十四NMOS管（M14）的栅极均接至第六参考点（F），其源极均接地；第四PMOS管（M4）栅极与漏极均接至第四参考点（D），其源极通过第四电阻（R4）接电源VIN；第五PMOS管（M5）栅极接至第四参考点（D），其源极通过第五电阻（R5）接电源VIN，其漏极接至第五参考点（E）；第六PMOS管（M6）栅极接至第四参考点（D），其源极通过第六电阻（R6）接电源VIN，其漏极接第十二NMOS管（M12）漏极形成第一参考点（A）；第一参考点（A）通过第一电容（C1）接地；上电复位信号POR通过依次串联的第一反相器（INV1）、第二反相器（INV2）、第三反相器（INV3）接第十五NMOS管（M15）栅极，第十五NMOS管（M15）漏极接第一参考点（A），其源极接地；第一参考点（A）通过依次串联的第六反相器（INV6）、第七反相器（INV7）、第八反相器（INV8）接第一与门（AND1）的一个输入端形成第三参考点（C），上电复位信号POR接第一与门（AND1）的另一个输入端；第一与门（AND1）的输出端接第一或非门（NOR1）的一个输入端，第一或非门（NOR1）的另一个输入端接地；第一或非门（NOR1）的输出端通过第九反相器（INV9）接第二参考点（B）；第四参考点（D）作为第一脉冲信号输出端（VPULSE1）；第七参考点（G）作为第二脉冲信号输出端（VPULSE2）；第五参考点（E）依次连接第四反相器（INV4）、第五反相器（INV5），第五反相器（INV5）的输出端作为第三脉冲信号输出端（VPULSE3）。

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