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申请/专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日：2024-02-05
公开（公告）日：2024-06-07
公开（公告）号：CN118150922A
主分类号：G01R31/00
分类号：G01R31/00
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.06.25#实质审查的生效;2024.06.07#公开
摘要：本发明公开了一种同步测量钙钛矿材料电子与空穴迁移率寿命积的方法，属于钙钛矿材料表征技术领域，针对钙钛矿材料在传统饱和光电流测试下易受测量历史干扰而无法准确测量其载流子输运性能的问题，提出交流电同步测量其电子与空穴迁移率寿命积的方法。具体方法是使用交流电进行测试，同步记录分别由空穴和电子所主导的正向电流与负向电流，将光照前后对应电压下的电流作差，得到恒定光强下正负两条光增益‑电压曲线。本方法采用交流电测试避免钙钛矿材料受测量历史干扰的问题，能够快速有效地对钙钛矿材料两种载流子输运性能进行评价。
主权项：1.一种同步测量钙钛矿材料电子与空穴迁移率寿命积的方法，其特征在于，源表2为所述钙钛矿材料1施加交流电；暗态下，同步记录分别由空穴和电子所主导的正向电流与负向电流；光源3照射在所述钙钛矿材料1的两侧电极的任一侧；光态下，同步记录正向电流与负向电流；将光态与暗态下的电流对应作差，得到钙钛矿材料在恒定光强下的正负两个电流方向的光增益-电压的关系曲线，拟合得到载流子迁移率寿命积。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院上海光学精密机械研究所 一种同步测量钙钛矿材料电子与空穴迁移率寿命积的方法
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