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申请/专利权人：上海交通大学
申请日：2024-03-26
公开（公告）日：2024-06-11
公开（公告）号：CN118170150A
主分类号：G05D1/46
分类号：G05D1/46;H01Q3/00;H01Q1/28;G05D109/20
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.06.28#实质审查的生效;2024.06.11#公开
摘要：本发明提供了一种高分辨率大斜视星载SAR天线波束二维扫描控制方法及系统，包括：计算下视角θL的理论斜视角变化范围β1～βM；建立斜视成像的星载SAR球面几何关系图，采用迭代求解方式获取距离向扫描控制规律θL1～θLM的数值解；从而获得距离向扫描度控制规律向量θL1～θLM，在轨波束扫描控制时与方位向控制规律向量β1～βM联合实施。与现有技术相比，本发明通过星地几何、球面几何的数学建模和公式推导，结合基于二分法的数值迭代，进而实现星载SAR大斜视成像天线波束二维扫描控制方法和规律的获取，解决了星载SAR大斜视成像天线波束扫描的二维耦合严重、分离困难和传统一维扫描近似模型精度差的问题。
主权项：1.一种高分辨率大斜视星载SAR天线波束二维扫描控制方法，其特征在于，包括：计算下视角θL的理论斜视角变化范围β1～βM；建立斜视成像的星载SAR球面几何关系图，采用迭代求解方式获取距离向扫描控制规律θL1～θLM的数值解，从而获得距离向扫描度控制规律向量θL1，θL2，…，θLM；在轨波束扫描控制时，将距离向扫描度控制规律向量θL1，θL2，…，θLM与方位向控制规律向量β1，β2，…，βM联合实施。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海交通大学 高分辨率大斜视星载SAR天线波束二维扫描控制方法及系统
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