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【发明公布】一种基于新型磁性磁路的氧化皮堵塞量的磁性检测方法_中国科学院金属研究所_202410155287.9 

申请/专利权人:中国科学院金属研究所

申请日:2024-02-02

公开(公告)日:2024-06-11

公开(公告)号:CN118169226A

主分类号:G01N27/87

分类号:G01N27/87

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.11#公开

摘要:本发明提供了一种基于新型磁性磁路的氧化皮堵塞量的磁性检测方法,该新型磁路的结构由不锈钢管道1、永磁铁2、环形磁轭4、磁敏元件5组成,永磁铁2与环形磁轭4紧密贴合形成半环形结构,磁敏元件5放置于环形磁轭4与不锈钢管道1外壁形成半环形结构之间,以角度θ25°~20°为间隔均匀排布。本发明新型磁路结构可用于弱铁磁性管内氧化皮精确定量检测,该磁路结构受堆积的氧化皮影响较大,弱化奥氏体不锈钢管弱磁性对检测结果的影响。

主权项:1.一种新型磁性磁路,其特征在于:该新型磁路的结构由不锈钢管道1、永磁铁2、环形磁轭4、磁敏元件5组成,永磁铁2与环形磁轭4紧密贴合形成半环形结构,磁敏元件5放置于环形磁轭4与不锈钢管道1外壁形成半环形结构之间,以角度θ25°~20°为间隔均匀排布。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国科学院金属研究所 一种基于新型磁性磁路的氧化皮堵塞量的磁性检测方法

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