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申请/专利权人：格创东智(深圳)科技有限公司;武汉大学;深圳市TCL高新技术开发有限公司
申请日：2024-03-11
公开（公告）日：2024-06-11
公开（公告）号：CN118172323A
主分类号：G06T7/00
分类号：G06T7/00;G06V10/25;G06V10/44;G06V10/54;G06V10/56;G06V10/764;G06V10/766;G06V10/82
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.11#公开
摘要：本申请提供一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质，本申请中的缺陷检测方法包括：响应缺陷检测事件，获取所述缺陷检测事件对应的目标检测对象的目标检测数据；对所述目标检测数据进行多视角特征提取，得到所述目标检测数据对应的目标对象特征，所述目标对象特征包括局部注意力特征、自注意力特征和全局注意力特征中至少一种；基于预设的目标边回归图模型对所述目标对象特征进行缺陷检测，得到所述目标检测对象的缺陷检测结果。本申请的技术方案能够实现提高缺陷检测的覆盖率，提高工业缺陷检测精度及检测性能。
主权项：1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法包括：响应缺陷检测事件，获取所述缺陷检测事件对应的目标检测对象的目标检测数据；对所述目标检测数据进行多视角特征提取，得到所述目标检测数据对应的目标对象特征，所述目标对象特征包括局部注意力特征、自注意力特征和全局注意力特征中至少一种；基于预设的目标边回归图模型对所述目标对象特征进行缺陷检测，得到所述目标检测对象的缺陷检测结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 格创东智(深圳)科技有限公司;武汉大学;深圳市TCL高新技术开发有限公司 缺陷检测方法、装置、设备和存储介质
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