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申请/专利权人：西安热工研究院有限公司
申请日：2024-03-26
公开（公告）日：2024-06-11
公开（公告）号：CN118169160A
主分类号：G01N23/223
分类号：G01N23/223;G01N23/2202
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.11#公开
摘要：本发明公开了一种高倍浓缩、同时测定石膏中多种杂质组分含量的方法，包括：将含有二氧化硅、三氧化二铝、三氧化二铁、氧化镁、氧化钠与氧化钾的石膏标准样加入硝酸钡与掩蔽剂，进行反应，将反应生成物中滤液蒸干，再加入高密度聚乙烯粉，进行压片后进行X射线荧光光分析，得到标准曲线；对石膏待测样进行预处理，制备待测样压片；通过X射线荧光光分析待测样压片，根据标准曲线和石膏待测样的浓缩倍率，计算得到石膏待测样中二氧化硅、三氧化二铝、三氧化二铁、氧化镁、氧化钠与氧化钾的含量。本发明能够同时测试出石膏中多种杂质组分二氧化硅、三氧化二铝、三氧化二铁、氧化镁、氧化钠、氧化钾含量，而且方法稳定性强、准确度高。
主权项：1.一种高倍浓缩、同时测定石膏中多种杂质组分含量的方法，其特征在于，包括如下步骤：1将若干含有二氧化硅、三氧化二铝、三氧化二铁、氧化镁、氧化钠与氧化钾的石膏标准样，研磨、烘干、加酸、煮沸，制得石膏标准样的液体；2向石膏标准样的液体中加入硝酸钡，进行复分解反应，再加入掩蔽剂，进行配位反应；将反应生成物中的沉淀过滤掉，将过滤液蒸干，得到高倍浓缩的预处理后标准样；3向高倍浓缩的预处理后标准样中加入高密度聚乙烯粉，进行压片制得标准样压片；4通过X射线荧光光谱分析标准样压片，得到标准曲线；5对石膏待测样进行预处理，制备待测样压片；6通过X射线荧光光谱分析待测样压片，根据标准曲线和石膏待测样的浓缩倍率，计算得到石膏待测样中二氧化硅、三氧化二铝、三氧化二铁、氧化镁、氧化钠与氧化钾的含量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安热工研究院有限公司 一种高倍浓缩、同时测定石膏中多种杂质组分含量的方法
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