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【发明公布】一种多准则约束下的极化SAR相干斑滤波方法及装置_西安电子科技大学_202410162919.4 

申请/专利权人:西安电子科技大学

申请日:2024-02-05

公开(公告)日:2024-06-11

公开(公告)号:CN118172271A

主分类号:G06T5/70

分类号:G06T5/70;G06T5/20;G06T7/00;G06V10/762;G01S13/90;G01S7/02

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.06.28#实质审查的生效;2024.06.11#公开

摘要:本发明公开了一种多准则约束下的极化SAR相干斑滤波方法,包括:获取原始全极化SAR图像,并对全极化SAR图像进行强散射点检测,得到强点分布图和非强点分布图;对非强点分布图进行多分量极化分解,得到每个像素点的主要散射类型;基于不同的散射类型,对非强点分布图中的所有像素点进行聚类,以确定每个像素点的准确散射类型;基于每个像素点的准确散射类型对非强点分布图进行像素筛选,得到筛选后的像素集合;基于滑动窗口对强点分布图进行最小均方误差滤波;同时,基于筛选后的像素集合对非强点分布图进行最小均方误差滤波,得到最终的滤波结果。该方法可以使滤波前后像素点的极化特性变化较小,最大程度保证了滤波前后信息完整,提升了滤波效果。

主权项:1.一种多准则约束下的极化SAR相干斑滤波方法,其特征在于,包括:获取原始全极化SAR图像,并对所述全极化SAR图像进行强散射点检测,得到强点分布图和非强点分布图;对所述非强点分布图进行多分量极化分解,得到每个像素点的主要散射类型;基于不同的散射类型,对所述非强点分布图中的所有像素点进行聚类,以确定每个像素点的准确散射类型;基于每个像素点的准确散射类型对所述非强点分布图进行像素筛选,得到筛选后的像素集合;基于滑动窗口对所述强点分布图进行最小均方误差滤波;同时,基于筛选后的像素集合对所述非强点分布图进行最小均方误差滤波,得到最终的滤波结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西安电子科技大学 一种多准则约束下的极化SAR相干斑滤波方法及装置

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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
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