申请/专利权人：中国科学院武汉岩土力学研究所

申请日：2023-11-29

公开（公告）日：2024-06-11

公开（公告）号：CN117661528B

主分类号：E02D1/00

分类号：E02D1/00;E02D1/02;G02B27/10;G02B6/32;G01N21/31;G01N21/01;H04W4/38;G08C17/02;H04N7/18

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.11#授权;2024.03.26#实质审查的生效;2024.03.08#公开

摘要：本申请涉及光电领域、土木工程试验技术领域，具体公开了一种基于高光谱成像技术的静力触探试验装置及试验方法，装置包括同轴连接的外壳、光学视窗和摩擦筒，光学视窗内安装有光源，摩擦筒内设置有静力触探组件，用于检测装置压入土层的阻力；外壳内设置有光纤传感器、无线收发器、数据处理芯片和电源，光纤传感器用于接收目标物的反射光并输出空间位置信息和光谱信息，无线收发器用于上传测试数据和接收控制信号，数据处理芯片用于分析测试数据。本申请结构紧凑，具有光谱分辨率高、成像速度快、抗干扰能力强等优点，可在静力触探试验过程中实时获取原位土体的化学组成信息，并与静力触探结果进行对比分析和验证，提高了划分复杂地层的准确性。

主权项：1.一种基于高光谱成像技术的静力触探试验装置，其特征在于：包括：外壳；摩擦筒，与所述外壳同轴连接；静力触探组件，设置于所述摩擦筒内，用于检测装置压入土层的阻力；光学视窗，与所述摩擦筒同轴连接；光源，安装于所述光学视窗内，所述光源发出的光可透过所述光学视窗进入土体，土体中目标物的反射光可透过所述光学视窗进入所述外壳；所述静力触探组件包括设置于所述摩擦筒内的测杆和固接于所述测杆周侧的多个电阻式应变片，所述摩擦筒内设置有用于将土层对所述摩擦筒的作用力传递给所述测杆的传导件；所述测杆包括同轴固接的上部测杆、中部端头和下部测杆，所述中部端头的直径大于所述上部测杆和所述下部测杆；所述传导件为固定卡环，所述固定卡环的内圈固接于所述中部端头、外圈固接于所述摩擦筒的内侧壁；所述电阻式应变片安装于所述上部测杆和所述下部测杆的周侧；所述外壳内设置有：光纤传感器，用于接收目标物的反射光并输出两个空间维和一个光谱维的信息；无线收发器，用于上传测试数据和接受控制信号；数据处理芯片，用于对所述光纤传感器输出的电信号进行分析处理并发送数据到所述无线收发器；电源，用于对所述光源、所述光纤传感器、所述数据处理芯片和所述无线收发器供电。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院武汉岩土力学研究所 一种基于高光谱成像技术的静力触探试验装置及试验方法

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