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申请/专利权人：合芯科技有限公司;深圳市合芯数字科技有限公司

摘要：本申请提供的存储控制器的测试方法及测试平台，该方法应用于测试平台，测试平台包括：控制模块、转换模块以及存储模块；其中，控制模块向存储控制器发送第一写控制信号；第一写控制信号用于指示转换模块对存储模块执行写操作；存储控制器根据第一写控制信号，向转换模块输出符合DFI协议的第二写控制信号；转换模块对基于第二写控制信号输出符合目标协议的第三写控制信号；存储模块基于第三写控制信号，写入第一待写入数据；控制模块获取存储模块中写入的目标数据，并根据目标数据，确定存储控制器的测试结果，进而通过上述测试方法实现对存储控制器快速准确地测试。

主权项：1.一种存储控制器的测试方法，其特征在于，所述方法应用于测试平台，所述测试平台包括：控制模块、转换模块以及存储模块；所述控制模块，用于向存储控制器发送第一写控制信号；所述第一写控制信号用于指示所述转换模块对所述存储模块执行写操作；所述存储控制器为用于对双倍速率同步动态随机存取存储器进行控制的控制器；所述存储控制器，用于根据所述第一写控制信号，向所述转换模块输出符合DFI协议的第二写控制信号；所述转换模块，用于对接收到的第二写控制信号进行协议转换处理，输出符合目标协议的第三写控制信号；所述目标协议为所述存储模块所支持的协议；所述存储模块，用于基于接收到的第三写控制信号，写入所述第三写控制信号指示写入的第一待写入数据；所述存储模块为静态随机存取存储器SRAM，或者，寄存器阵列；所述控制模块，还用于获取所述存储模块中写入的目标数据，并根据所述目标数据，确定所述存储控制器的测试结果；所述第二写控制信号包括：写指示信号、第一地址信号、第二待写入数据以及写使能信号；所述第一地址信号用于指示第二待写入数据的存储地址；所述转换模块，具体用于响应于接收到的第二写控制信号，若识别出所述第二写控制信号中携带有用于指示需要进行写操作的写指示信号，则在所述第二写控制信号中所携带的写使能信号所指示的信号采集时间下，采集所述第二写控制信号中所包括的第二待写入数据；所述转换模块，具体用于识别所述第二写控制信号中的第一地址信号，并将所述第一地址信号和所述第二待写入数据，转换为符合所述目标协议的第二地址信号和第一待写入数据；所述转换模块，具体用于确定符合所述目标协议的第二地址信号和第一待写入数据为第三写控制信号，并输出所述第三写控制信号。

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