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申请/专利权人：浙江欣旺达电子有限公司
申请日：2023-09-13
公开（公告）日：2024-06-11
公开（公告）号：CN221124643U
主分类号：G01R1/04
分类号：G01R1/04;G01R31/00
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.11#授权
摘要：本实用新型提供了一种测试治具，测试治具包括：基座，设置有用于放置待测试件的测试位；竖向连接部；连接在基座上；测试部，可移动地设置在竖向连接部上，测试部具有测试端，测试端具有靠近测试位的测试位置以及远离测试位的分离位置；驱动部，设置在基座上并与测试部驱动配合以带动测试端在测试位置和分离位置之间进行移动；拉伸缓冲部，连接在竖向连接部和测试部之间或者连接在驱动部和测试部之间，以向测试部施加朝向远离所述测试位方向的缓冲力。本申请的技术方案能够有效地解决相关技术中的待测试件易被压坏的问题。
主权项：1.一种测试治具，其特征在于，包括：基座10，设置有用于放置待测试件1的测试位；竖向连接部20，连接在所述基座10上；测试部30，可移动地设置在所述竖向连接部20上，所述测试部30具有测试端，所述测试端具有靠近所述测试位的测试位置以及远离所述测试位的分离位置；驱动部40，设置在所述竖向连接部20上并与所述测试部30驱动配合以带动所述测试端在所述测试位置和所述分离位置之间进行移动；拉伸缓冲部50，连接在所述竖向连接部20和所述测试部30之间或者连接在所述驱动部40和所述测试部30之间，以向所述测试部30施加朝向远离所述测试位方向的缓冲力。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 浙江欣旺达电子有限公司 测试治具
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